Научные исследования

Оборудование для минимизации вибраций и стабилизации работы измерительного оборудования. Эти решения важны для высокоточных микроскопов, зондовых систем, спектрометров, где даже минимальные колебания влияют на результат.

Системы для микроскопии и спектроскопии работают с разрешением менее 20 нм, в видимом, БИК, ИК и ТГц – спектральных диапазонах. Оснащены технологиями «background-free detection», отражательной подсветкой AFM-зонда, модулями видимой и ИК спектроскопии.

Оборудование для спектроскопии поверхности твердых тел — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Оже-спектроскопия и микроскопия, фотоэмиссионная спектроскопия в жестком рентгене (HAXPES), ARPES (фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением) и многое другое.

Позволяют проводить оценку параметров продукции при проектировании, апробации, упаковке и транспортировке, параметров надежности, испытания на усталость и моделировать различные условия влияния окружающей среды.

Машины используются для растяжения, сжатия и изгиба образцов при малых и средних нагрузках. Отличаются низким уровнем шума и высокой точностью измерений. Диапазон нагрузок — от нескольких ньютонов до сотен килоньютонов.

Приборы регистрируют изменение массы и тепловых свойств образца при нагреве, охлаждении или изотермическом режиме. Методы ДСК и ТГ позволяют исследовать термостойкость, состав и тепловые эффекты материалов. Применяются для контроля качества и исследований в химии, металлургии, фармацевтике и других отраслях.

Импедансная спектроскопия используется для исследования твердых тел и электрохимических систем, позволяя оценивать транспорт носителей заряда и влияние микроструктуры.

Оборудование для проведения спектральной визуальной эллипсометрии с картированием поверхности образца и измерениями толщины и показателя преломления пленок.

Приборы для измерения микротвердости, модуля упругости и параметров адгезии тонких пленок. Позволяют исследовать наноструктурированные покрытия, микроэлектронные и оптические материалы.