Микроэлектроника и полупроводниковая промышленность

Производство полупроводниковых компонентов требует строгого контроля чистоты исходного сырья, содержания примесей и структуры материалов. ЦПК поставляет спектрометры и микроскопы для исследования металлических и полупроводниковых образцов, оценки качества поверхностей, выявления дефектов и проверки соответствия материалов требованиям технологического процесса.

Микроэлектроника и полупроводниковая промышленность

Категории оборудования

Все категории

Антивибрационные решения для науки и промышленности

Оборудование для минимизации вибраций и стабилизации работы измерительного оборудования. Эти решения важны для высокоточных микроскопов, зондовых систем, спектрометров, где даже минимальные колебания влияют на результат.

Электронные микроскопы

Электронные микроскопы Thermo Scientific используются для высокоточного анализа структуры и состава материалов на нано- и микроскопическом уровнях. Применяются в науке, промышленности, медицине и криминалистике.

Сканирующая зондовая микроскопия

Оборудования для сканирующей зондовой (атомно-силовой) микроскопии: системы с регулировкой температуры образца, низкотемпературные модификации и решения для исследования крупных образцов.

Вибрационные испытательные стенды

Позволяют проводить оценку параметров продукции при проектировании, апробации, упаковке и транспортировке, параметров надежности, испытания на усталость и моделировать различные условия влияния окружающей среды.

Визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера

Оборудование для проведения спектральной визуальной эллипсометрии с картированием поверхности образца и измерениями толщины и показателя преломления пленок.

Измерения электрических характеристик

Приборы предназначены для оценки электрических свойств пластин с использованием четырехзондового метода или метода ртутного зонда. Применяются для анализа проводимости и других параметров материалов.