Микроэлектроника и полупроводниковая промышленность

Электронная промышленность - это одна из самых технологичных и капиталоемких отраслей. Каждый производственный этап требует соответствующего решения задач измерений и контроля соблюдения тех процесса. Наша компания предлагает широкий перечень оборудования для каждой стадии, начиная с определения качества подложки с помощью физических и химических методов анализа (электрохимическое профилирование, лазерная интерферометрия) и заканчивая измерениями топологической нормы на готовых полупроводниковых структурах (светло и темнопольная микроскопия, рентгеноскопия).

Микроэлектроника и полупроводниковая промышленность

Категории оборудования

Все категории

Антивибрационные решения для науки и промышленности

Оборудование для минимизации вибраций и стабилизации работы измерительного оборудования. Эти решения важны для высокоточных микроскопов, зондовых систем, спектрометров, где даже минимальные колебания влияют на результат.

Электронные микроскопы

Электронные микроскопы Thermo Scientific используются для высокоточного анализа структуры и состава материалов на нано- и микроскопическом уровнях. Применяются в науке, промышленности, медицине и криминалистике.

Сканирующая зондовая микроскопия

Оборудования для сканирующей зондовой (атомно-силовой) микроскопии: системы с регулировкой температуры образца, низкотемпературные модификации и решения для исследования крупных образцов.

Вибрационные испытательные стенды

Позволяют проводить оценку параметров продукции при проектировании, апробации, упаковке и транспортировке, параметров надежности, испытания на усталость и моделировать различные условия влияния окружающей среды.

Визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера

Оборудование для проведения спектральной визуальной эллипсометрии с картированием поверхности образца и измерениями толщины и показателя преломления пленок.

Измерения электрических характеристик

Приборы предназначены для оценки электрических свойств пластин с использованием четырехзондового метода или метода ртутного зонда. Применяются для анализа проводимости и других параметров материалов.