Микроскопы Брюстера

   Одним из удивительных свойств оптики является возможность иметь нулевое отражение света при освещении идеальной поверхности под углом Брюстера. Любые изменения оптических свойств на границе приводят к отражению. Этот факт является основой микроскопии Брюстера — относительно нового метода изучения нанопленок на границе вода/воздух или на поверхности других прозрачных диэлектрических подложек. Уже при появлении монослоя закон Брюстера не выполняется, и некоторое очень слабое отражение появляется на границе раздела.  Увеличивая интенсивность освещения можно увеличить контраст между покрытой и чистой частями поверхности. Наиболее распространенными областями применения таких микроскопов являются биология и науки о жизни, коллоидная химия и химия поверхности, исследования материалов.

   Микроскоп Nanofilm_ep4bam Accurion — это специальная конфигурация микроскопа, созданная на основе платформы спектрального эллипсометра Nanofilm EP4 Imaging.

   Идеальная система для получения изображений тонких пленок с повышенной глубиной резкости изображения, которая может также работать и как эллипсометр с in-situ визуализацией. Комбинация мощного зеленого лазера с современной оптикой высокого разрешения.

   Основные области применения:

• Превращение монослоя в многослойную структуру, полимеризация монослоев
• Фотохимические реакции (например, фотоизомеризация)
• Исследование пленок Ленгмюра на твердых подложках
• Влияние различного состава субфаз на структуру монослоев
• Полимеры и другие материалы, которые не детектируются флуоресцентной микроскопией
• Кинетика адсорбции
• Границы раздела фаз
• Качество и гомогенность пленок Ленгмюра

   Микроскоп Брюстера Nanofilm Ultrabam от Accurion — это мощный микроскоп Брюстера, специально разработанный для исследования границ раздела воздух/жидкость. Микроскоп реализует прямую визуализацию монослоев Ленгмюра или пленок, полученных в результате адсорбции. Он также позволяет работать с диэлектрическими подложками, такими как стекло, кварц и др. Nanofilm_ultrabam объединяет высокое разрешение до 2 мкм и широкофокусные изображения в реальном времени. Улучшенная оптика позволяет получать 20-35 кадров в секунду при автоматической фокусировке изображения.

   Высокоскоростная камера и специальный алгоритм калибровки позволяет количественно измерять отражение. Это дает возможность измерять кинетику адсорбции или изменение толщины слоев, а также  визуализации оптической анизотропии. Прибор специально разработан как микроскоп и не может быть использован как эллипсометр.