Сканирующие электронные микроскопы

NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд

NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением.

Описание оборудования

   Электронная колонна Gemini сверхвысокого вакуума:

  • высочайшее пространственное разрешение
  • наименьший размер пятна электронного пучка
  • уникальная производительность в режиме низких энергий
  • эффективная микроскопия вторичных электронов

   Электронный анализатор Оже-спектрометра NanoSAM: 

  • переменное разрешение по энергии
  • превосходная чувствительность, многоканальное детектирование

   Пробоподготовка для Оже спектроскопии:

  • варьирование размера образца
  • изменение температуры образца в диапазоне (50-500) K
  • наклон плоскости образца ±60°

   Предельное разрешение для Оже-спектрометра

   Комплекс NanoSAM (также называемый Оже-микрозонд) является основным инструментом для Оже-спектроскопии (анализа малых структур). Благодаря уникальной производительности электронной колонны Gemini сверхвысокого вакуума, NanoSAM гарантирует непревзойденное разрешение лучше 5 нм в сканирующей Оже микроскопии и лучше 3 нм в микроскопии вторичных электронов.

   В отличие от других систем, Оже-спектрометр NanoSAM обладает очень хорошим разрешением не только на стандартной энергии пучка в 20 кэВ, но и при энергии в 5 кэВ — разрешение в сканирующей Оже микроскопии при этой энергии остается лучше 10 нм. Режим низких энергий позволяет работать в диапазоне параметров, где сечения Оже высоки и хорошо документированы для количественного анализа.

   Дополнительный анализ

   Оже-спектрометр NanoSAM предназначен как для быстрого и эффективного сбора данных с рутинных образцов, так и для гибкой работы в нетипичных диапазонах параметров на сложных материалах. Кроме того, функциональность NanoSAM может быть расширена с помощью методик дополнительного анализа ключевых характеристик образцов: кристаллической структуры (дифракция отраженных электронов) или структуры магнитных доменов (сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом). Другими особенностями NanoSAM являются: определение профиля распределения веществ по глубине, зарядовая нейтрализация, фокусируемый ионный пучок и электронно-лучевая литография.

Описание NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Похожее оборудование
Микроскоп VolumeScope 2 SEM Микроскоп VolumeScope 2 SEM
Передовой сканирующий электронный микроскоп с технологией serial block-face imaging и Multi Energy Deconvolution (MED SEM).
Микроскоп Prisma E SEM Микроскоп Prisma E SEM
Универсальный высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым (W) источником и режимом environmental SEM (ESEM™).
Микроскоп Quattro ESEM Микроскоп Quattro ESEM
Ультра универсальный высоко разрешающий SEM с технологией FEG и уникальной экологической средой (ESEM™), позволяющей анализировать образцы в их естественном состоянии.
Микроскоп Verios 5 XHR SEM Микроскоп Verios 5 XHR SEM
Сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения, обеспечивающий субнанометровую визуализацию в диапазоне рабочих напряжений от 1 кВ до 30 кВ.
Микроскоп Axia ChemiSEM System Микроскоп Axia ChemiSEM System
Современный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с термоэмиссионным (W) источником и встроенной технологией ChemiSEM®, которая обеспечивает автоматическое количественное EDS картирование прямо во время визуализации образца.
Микроскоп Apreo ChemiSEM System Микроскоп Apreo ChemiSEM System
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG) и интегрированной технологией ChemiSEM® для прямого комбинированного SEM, EDS и EBSD анализа.
Микроскоп Apreo 2 SEM Микроскоп Apreo 2 SEM
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG источник), обеспечивающий суб нанометровое разрешение даже при рабочем расстоянии 10 мм.
FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Микроскоп используется для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении. Отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54