Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп VolumeScope 2 SEM
Thermo Fisher Scientific Inc.
Передовой сканирующий электронный микроскоп с технологией serial block-face imaging и Multi Energy Deconvolution (MED SEM). Он обеспечивает 10 нм изотропное пространство временное разрешение при автоматической 3D реконструкции больших объёмов, что делает этот прибор передовым решением для анализа биологических и материаловедческих образцов в естественном контексте без ручной обработки.
Описание оборудования
VolumeScope 2 сочетает ультрамикротом внутри SEM‑камеры и инновационный MED‑SEM алгоритм. После каждого среза алмазным ножом поверхность блока «выглаживается» и сканируется, затем несколько изображений с разной энергией ускорения используются для создания виртуальных оптических слоёв. Это позволяет получить 10 нм разрешение по оси Z, значительно превосходя традиционные возможности механических микротомов.
Интеграция с Thermo Scientific Maps™ Software позволяет автоматически собирать объёмы с выбором нескольких ROI, тайлингом и сшиванием изображений. Amira Live Tracker обеспечивает навигацию и контроль в процессе acquisition, что упрощает управление экспериментом и оптимизацию результатов. При необходимости VolumeScope 2 может работать как автономный SEM в обычных (HiVac и LoVac) режимах — например, для анализа непроводящих объектов при низких давлениях до 50 Па с использованием специального VS‑DBS детектора.
Функциональность
- Serial Block‑Face Imaging (SBF‑SEM) — автоматическая внутренняя секционировка срезов алмазным ножом.
- Multi‑Energy Deconvolution (MED‑SEM) — виртуальное оптическое разрешение менее 10 нм в осевой плоскости.
- Maps™ Software + Amira Live Tracker — управление экспериментами, ROI, автоматизация сбора данных.
- Высокая степень автоматизации: рукописное управление не требуется, автоохлаждение, старт, пользовательские пресеты и руководство.
Преимущества
- Принцип работы: встроенный ультрамикротом + MED‑SEM алгоритм
- Программное обеспечение: Thermo Scientific Maps™, Amira Live Tracker
- Масштаб и платформа: stage 110×110 мм, наклон –15°/+90°, вращение 360°, нагрузка до 500 г стандартная, до 2 кг при наклоне 0°
- Условия эксплуатации: ускоряющее напряжение 200 В–30 кВ (в SBF‑SEM режимы 500 В–6 кВ), вакуум HiVac и LowVac до 50 Па
- Комплектация: T1, VS‑DBS, T2, T3, LVD, ETD, IR‑CCD, опционально STEM‑детектор, дополнительные держатели
- Прочее: автоматическая смена микротома, поддержка до 18 stubs одновременно, модули для разных держателей и образцов
Особенности
- Физическая и оптическая секционировка в одном приборе
- Полностью автоматизированный сбор большого объёма 3D данных без вмешательства
- Совместимость с HiVac и LoVac режимами, включая VS‑DBS для непроводящих образцов
- Подходит для анализа биологических тканей, полимеров, материалов с высоким разрешением
- Интеграция с ПО Maps™ и Amira обеспечивает гибкость и контроль эксперимента
Основные характеристики
| Источник электрона | Schottky FEG, стабильный высоковольтный выход, срок службы ≈ 24 месяца |
| Минимальное разрешение | 0.8 нм (STEM при 30 кВ), 0.7 нм (15 кВ), 1.0 нм (1 кВ) |
| Режимы работы | HiVac / LoVac (до 50 Па), SBF‑SEM режим |
| Stage (столик) | 5‑осевой eucentric, перемещение XY 110×110 мм, Z 65 мм, max образец 500 г / 2 кг |
| Камера | Ширина 340 мм, 12 аналитических портов, рабочее расстояние 10 мм |
| Толщина среза (микротом) | 25–40 нм (эффективно ≥10 нм после MED‑SEM deconvolution) |
| Электронные параметры | Поток 50 пА–3.2 нА (SBF‑SEM), 1 пА–400 нА (обычный SEM); landing energy 20 эВ–30 кВ |
| Детекторы | T1, VS‑DBS, T2, T3, LVD, ETD, IR‑CCD, STEM 3+, опции расширения |
| ПО | Maps™, Amira Live Tracker, Avizo (по запросу) |
Микроскоп Prisma E SEM
Универсальный высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым (W) источником и режимом environmental SEM (ESEM™).
Микроскоп Quattro ESEM
Ультра универсальный высоко разрешающий SEM с технологией FEG и уникальной экологической средой (ESEM™), позволяющей анализировать образцы в их естественном состоянии.
Микроскоп Verios 5 XHR SEM
Сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения, обеспечивающий субнанометровую визуализацию в диапазоне рабочих напряжений от 1 кВ до 30 кВ.
Микроскоп Axia ChemiSEM System
Современный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с термоэмиссионным (W) источником и встроенной технологией ChemiSEM®, которая обеспечивает автоматическое количественное EDS картирование прямо во время визуализации образца.
Микроскоп Apreo ChemiSEM System
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG) и интегрированной технологией ChemiSEM® для прямого комбинированного SEM, EDS и EBSD анализа.
Микроскоп Apreo 2 SEM
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG источник), обеспечивающий суб нанометровое разрешение даже при рабочем расстоянии 10 мм.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
