Микроскоп Quattro ESEM

Thermo Fisher Scientific Inc.

Ультра универсальный высоко разрешающий SEM с технологией FEG и уникальной экологической средой (ESEM™), позволяющей анализировать образцы в их естественном состоянии. Высокая детализация SE и BSE изображений в любых режимах работы делает его идеальным решением для широкого спектра материалов. Поддерживает множество обнаружителей и автоматизированные функции для исследовательских и промышленных задач.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Принцип работы: использование полевого эмиссионного источника (FEG) для достижения разрешения до < 0,6 нм в режиме BSE и SE.
Уникальная функция экологического SEM (ESEM™) позволяет анализировать влажные, нагретые или живые образцы без необходимости высоковакуумной подготовки.
Поддержка одновременной SE/BSE визуализации и расширенная аналитика благодаря гибкому набору детекторов.
Особенности автоматизации: автоматическое выравнивание пучка, контроль заряда, улучшенная стабильность при длительном сканировании.
При необходимости можно добавить изображение прибора с другой стороны или схематичную визуализацию принципа работы (этот блок – единственный с изображением без слайдера).

Функциональность

Анализ влажных, органических, живых образцов без металлизации.
Одновременное SE/BSE изображение для расширенного контраста.
Автоматическое выравнивание и компенсация заряда.
Высота фокусного расстояния до 10 мм.
Расширенные режимы работы при низком давлении.

Преимущества

Принцип работы: FEG‑источник, режим ESEM
Программное обеспечение: ChemiSEM, Maps‑3, Avizo и т. д.
Массогабаритные характеристики: вес, габариты
Условия эксплуатации: рабочие вакуумные режимы, температура
Комплектация: базовая + опциональное оборудование
Прочее: требования к подготовке образцов, совместимость с аксессуарами

Особенности

Интегрированное ПО Thermo Fisher ChemiSEM™
Поддержка Avizo/MAPs‑3, AutoScript
Возможность подключения EBSD/CL/STEM модулей
Опциональные модули STEM‑ и CL‑детекторов согласно задачам

Основные характеристики

Источник электрона	Полевая эмиссия (FEG)
Максимальное разрешение	≤ 0.6–0.7 нм (BSE/SE)
Диапазон напряжения	Обычно 1–30 кВ
Обнаружители	SE, BSE, EDS, STEM (опционально), EBSD, CL
Режимы вакуумирования	Высокий вакуум, низкий вакуум, ESEM
Программное обеспечение	ChemiSEM, Maps‑3, Avizo, AutoScript и др.
Вес, размеры	Различаются в зависимости от модели (для Quattro — около xxx)
Примерный уровень автоматизации	Авто‑настройка пучка, компенсация заряда, мультианализ

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп VolumeScope 2 SEM

Передовой сканирующий электронный микроскоп с технологией serial block-face imaging и Multi Energy Deconvolution (MED SEM).

Микроскоп Prisma E SEM

Универсальный высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым (W) источником и режимом environmental SEM (ESEM™).

Микроскоп Verios 5 XHR SEM

Сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения, обеспечивающий субнанометровую визуализацию в диапазоне рабочих напряжений от 1 кВ до 30 кВ.

Микроскоп Axia ChemiSEM System

Современный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с термоэмиссионным (W) источником и встроенной технологией ChemiSEM®, которая обеспечивает автоматическое количественное EDS картирование прямо во время визуализации образца.

Микроскоп Apreo ChemiSEM System

Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG) и интегрированной технологией ChemiSEM® для прямого комбинированного SEM, EDS и EBSD анализа.

Микроскоп Apreo 2 SEM

Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG источник), обеспечивающий суб нанометровое разрешение даже при рабочем расстоянии 10 мм.