Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп Prisma E SEM
Thermo Fisher Scientific Inc.
Универсальный высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым (W) источником и режимом environmental SEM (ESEM™), позволяющим исследовать влажные, пыльные и газовыделяющие образцы без специальной подготовки. Поддержка ColorSEM Technology обеспечивает отображение химического состава прямо на SEM-изображении в режиме live quantification, упрощая анализ и ускоряя принятие решений.
Описание оборудования
В Prisma E применяется универсальная колонна с дифференциальной откачкой через линзу, обеспечивающая стабильное высокое разрешение: 3.0 нм при 30 кВ независимо от вакуумного режима (высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM) и 7.0 нм при 3 кВ с активацией функции beam deceleration (режим BD). Камера размером 340 мм в ширину, с 12 портами, позволяет устанавливать до 3 детекторов EDS одновременно, два из которых расположены под углом 180° — идеальное решение для аналитического многомодального анализа. Возможна coplanar конфигурация EDS/EBSD и интеграция WDS и Raman датчиков.
Простой интерфейс с функцией User Guidance и Undo/Redo облегчает работу начинающим пользователям, а расширенные режимы SmartSCAN, Nav Cam™ и автоматические сценарии ускоряют анализ для опытных команд. Поддержка ESEM режима позволяет работать с образцами при давлении до 2600 Па (H₂O) или 4000 Па (N₂), минимизируя подготовку и позволяя исследовать органические, влажные или нагретые материалы in-situ.
Функциональность
Простой интерфейс с функцией User Guidance и Undo/Redo облегчает работу начинающим пользователям, а расширенные режимы SmartSCAN, Nav Cam™ и автоматические сценарии ускоряют анализ для опытных команд. Поддержка ESEM режима позволяет работать с образцами при давлении до 2600 Па (H₂O) или 4000 Па (N₂), минимизируя подготовку и позволяя исследовать органические, влажные или нагретые материалы in-situ.
Функциональность
- ColorSEM Technology — живое цветовое отображение состава на SEM изображении в реальном времени, без пауз для EDS-сканирования.
- SmartSCAN Imaging: сканирование с накоплением кадров, интеграцией строк и интерлейсингом для повышения четкости при высоком шуме и минимизации артефактов.
- Nav-Cam™ и автонavigation: быстрое перемещение между множеством проб без остановки эксперимента, упрощённый выбор областей интереса маркером камеры.
- Работа в любых режимах: SE и BSE изображения одновременно во всех вакуумных режимах, включая ESEM для аутгазящих или влажных образцов.
Преимущества
- Принцип работы: Tungsten источник, дифференциальная откачка через линзу, ESEM режим
- Программное обеспечение: ColorSEM, Maps 3, AutoScript 4, Avizo, TopoMaps
- Массогабариты и камера: внутренняя ширина 340 мм, 12 портов, 5‑осевая платформа 110×110 мм (наклон до 105°), max образец 5 кг
- Условия эксплуатации: 200 В–30 кВ ускоряющее напряжение, вакуум до ESEM режимов (до 2600–4000 Па)
- Комплектация: стандартные ETD,LVD, GSED, IR‑камера; опционально Nav‑Cam+, DBS, STEM 3+, EDS, EBSD, WDS, CL, EBIC
- Прочие функции: автоматизированные сценарии, live‑анализ, навигация, beam deceleration, Peltier/нагревательные стадии
Особенности
- Всегда включённый EDS: live Колоризация SEM-изображений с элементарным составом
- Гибкие режимы вакуумирования для работы с типами образцов, требующих минимальной подготовки
- Возможность использования до 3 EDS-детекторов одновременно для ускоренного анализа
- Поддержка расширений: EBSD, WDS, STEM 3+, WetSTEM, CL, Raman и др
- Удобное управление пользователем благодаря Nav‑Cam, сценариям и отмене действий
Основные характеристики
| Источник | Вольфрамовый (W) |
| Разрешение | 3.0 нм при 30 кВ во всех режимах; 7.0 нм при 3 кВ с beam deceleration режимом |
| Ускоряющее напряжение | 200 В – 30 кВ |
| Вакуумные режимы | HiVac, LoVac (до 130–2600 Па), ESEM (до 2600–4000 Па |
| Детекторы | ETD, LVD, GSED; опции: Retractable BSE, EDS up to 3, Nav‑Cam+, DBS, STEM 3+, WetSTEM, CL, Raman, WDS и др. |
| Платформа | 5‑осевая моторизованная eucentric 110×110 мм, наклон до 105°, max 5 кг |
| Камера | Ширина 340 мм, 12 портов, 3 EDS порта, coplanar EDS/EBSD |
| ПО | ColorSEM, Maps 3, AutoScript 4, Avizo, TopoMaps |
| Особенности | Beam deceleration до –4 кВ, Gold-standard live-elemental mapping, intuitive UI, multi-user friendly |
Микроскоп VolumeScope 2 SEM
Передовой сканирующий электронный микроскоп с технологией serial block-face imaging и Multi Energy Deconvolution (MED SEM).
Микроскоп Quattro ESEM
Ультра универсальный высоко разрешающий SEM с технологией FEG и уникальной экологической средой (ESEM™), позволяющей анализировать образцы в их естественном состоянии.
Микроскоп Verios 5 XHR SEM
Сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения, обеспечивающий субнанометровую визуализацию в диапазоне рабочих напряжений от 1 кВ до 30 кВ.
Микроскоп Axia ChemiSEM System
Современный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с термоэмиссионным (W) источником и встроенной технологией ChemiSEM®, которая обеспечивает автоматическое количественное EDS картирование прямо во время визуализации образца.
Микроскоп Apreo ChemiSEM System
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG) и интегрированной технологией ChemiSEM® для прямого комбинированного SEM, EDS и EBSD анализа.
Микроскоп Apreo 2 SEM
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG источник), обеспечивающий суб нанометровое разрешение даже при рабочем расстоянии 10 мм.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
