Сканирующие электронные микроскопы

Микроскоп Axia ChemiSEM System

Микроскоп Axia ChemiSEM System
Thermo Fisher Scientific Inc.
Cовременный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с термоэмиссионным (W) источником и встроенной технологией ChemiSEM®, которая обеспечивает автоматическое количественное EDS картирование прямо во время визуализации образца. Это позволяет получать сведения о морфологии и элементном составе объекта одновременно и практически без задержек. Модель обладает просторной камерой образцов (до 10 кг), полностью открывающейся дверью и автоматизированными функциями — быстрая подготовка, простой интерфейс и минимальные требования к обучению пользователей. Отличный выбор для промышленных и академических лабораторий, ищущих высокую производительность при минимальной сложности эксплуатации.

Описание оборудования

Axia ChemiSEM создан для повышения эффективности SEM‑EDS анализа. В основе системы — термоэмиссионный (W) источник и новая концепция ChemiSEM Technology, при которой EDS сигнал постоянно собирается и демонстрируется в реальном времени, без переключений режимов и задержек. Это позволяет пользователю характеризовать образец с первого кадра.

Инструмент автоматизирует фокусировку, выравнивание пучка (SmartAlign), компенсацию дрейфа, оптимизацию заряда и астигматизма, значительно сокращая время подготовки и снижая квалификационные барьеры. Пользовательский интерфейс интуитивен и сопровождается встроенными подсказками и сценариями работы при разных задачах. Благодаря вместительной камере (280 мм ширина), полностью раскрывающейся двери и нагрузке до 10 кг, прибор подходит для анализа крупных или нестандартных образцов. Этап от загрузки до вакуумирования занимает менее двух минут; несмотря на объём, скорость сканирования остаётся высокой и воспроизводимой.

Система поддерживает как высокую, так и низковакуумную (до 150 Па) среду, что позволяет работать с токопроводящими и токонепроводящими образцами, включая биологические и влажные материалы, без предварительного покрытия. Совместимая аналитическая платформа Thermo Scientific Maps™ Software предоставляет функции автоматизированного картирования больших площадей и стежинга изображений, а AutoScript 4 на Python позволяет создавать автоматизированные сценарии измерений для серийных анализов.

Функциональность

  • Live quantitative elemental mapping — визуализация состава образца в реальном времени без переключений режимов и ручных настроек.
  • SmartAlign и автофокус — автоматизированная настройка изображения и компенсация заряда и астигматизма для стабильной работы при любых условиях.
  • Flexible loading chamber — возможна загрузка образцов до 10 кг, легко вставляться даже неудобные объекты, быстрая смена образцов (<2 мин).

Преимущества

  • Принцип работы: термоэмиссионный источник, ChemiSEM сбор EDS, автоматическая компенсация
  • Программное обеспечение: ChemiSEM, Maps™, AutoScript 4, xT SEM интерфейс, SmartScan, DCFI
  • Массогабариты: 895×775×1624 мм, масса ~405 кг
  • Условия эксплуатации: напряжение ускорения 200 В–30 кВ, рабочий вакуум: HiVac и LowVac до 150 Па
  • Комплектация: стандартный TrueSight EDS, ETD, retractable BSE, LVD LoVac; опции CL‑детектор, EBSD, CleanHeater
  • Прочее: возможность Python-скриптинга (AutoScript), мультипортовая камера, ускоренная подготовка образцов
Особенности
  • Постоянный EDS-анализ без переключений режимов
  • Уникальная удобная загрузка образцов большого размера и массы до 10 кг
  • Встроенное ПО: ChemiSEM (live-mapping), Maps™, AutoScript 4, Nav‑Cam interface
  • Возможности расширения: EBSD (Quasor II), катодолюминесценция (CL), Beam Deceleration, CleanHeater stage

Основные характеристики

Источник электрона Термоэмиссионный вольфрамовый (W)
Разрешение 3.0 нм @ 30 кВ (SE); 8 нм @ 3 кВ (SE); 7 нм @ 3 кВ (BSE)
Детекторы ETD (SE), retractable BSE, TrueSight EDS, LVD (LoVac), опции: CL, EBSD
Живое EDS-картирование Да (ChemiSEM Technology), quantitative mapping при съемке
Объём камеры Ø 280 мм внутренняя ширина, до 10 кг образцы, максимально 128 мм высота
Стадия XY 120×120 мм, наклон –15° / +90°, вращение n×360°
Программное обеспечение Maps™, AutoScript 4, ChemiSEM, SmartScan, DCFI, xT SEM
Дополнительные опции Beam Deceleration, CleanHeater (до 1100 °C), Photon CL, Quasor II EBSD, TopoMaps
Габариты / вес 895×775×1624 мм, ~405 кг
Похожее оборудование
Микроскоп VolumeScope 2 SEM Микроскоп VolumeScope 2 SEM
Передовой сканирующий электронный микроскоп с технологией serial block-face imaging и Multi Energy Deconvolution (MED SEM).
Микроскоп Prisma E SEM Микроскоп Prisma E SEM
Универсальный высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым (W) источником и режимом environmental SEM (ESEM™).
Микроскоп Quattro ESEM Микроскоп Quattro ESEM
Ультра универсальный высоко разрешающий SEM с технологией FEG и уникальной экологической средой (ESEM™), позволяющей анализировать образцы в их естественном состоянии.
Микроскоп Verios 5 XHR SEM Микроскоп Verios 5 XHR SEM
Сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения, обеспечивающий субнанометровую визуализацию в диапазоне рабочих напряжений от 1 кВ до 30 кВ.
Микроскоп Apreo ChemiSEM System Микроскоп Apreo ChemiSEM System
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG) и интегрированной технологией ChemiSEM® для прямого комбинированного SEM, EDS и EBSD анализа.
Микроскоп Apreo 2 SEM Микроскоп Apreo 2 SEM
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG источник), обеспечивающий суб нанометровое разрешение даже при рабочем расстоянии 10 мм.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54