Сканирующие электронные микроскопы

Сканирующие микроскопы обеспечивают четкие и детализированные изображения поверхности и структуры материалов. Подходят для анализа широкого спектра образцов — от крупных промышленных объектов до тончайших лабораторных структур. Простое управление и автоматизация упрощают работу и позволяют быстро получать качественные результаты.

Смотреть оборудование Получить консультацию

Товары раздела

Микроскоп VolumeScope 2 SEM

Передовой сканирующий электронный микроскоп с технологией serial block-face imaging и Multi Energy Deconvolution (MED SEM).

Микроскоп Prisma E SEM

Универсальный высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым (W) источником и режимом environmental SEM (ESEM™).

Микроскоп Quattro ESEM

Ультра универсальный высоко разрешающий SEM с технологией FEG и уникальной экологической средой (ESEM™), позволяющей анализировать образцы в их естественном состоянии.

Микроскоп Verios 5 XHR SEM

Сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения, обеспечивающий субнанометровую визуализацию в диапазоне рабочих напряжений от 1 кВ до 30 кВ.

Микроскоп Axia ChemiSEM System

Современный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с термоэмиссионным (W) источником и встроенной технологией ChemiSEM®, которая обеспечивает автоматическое количественное EDS картирование прямо во время визуализации образца.

Микроскоп Apreo ChemiSEM System

Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG) и интегрированной технологией ChemiSEM® для прямого комбинированного SEM, EDS и EBSD анализа.

Микроскоп Apreo 2 SEM

Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG источник), обеспечивающий суб нанометровое разрешение даже при рабочем расстоянии 10 мм.