Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия VT SPM

Сканирующая зондовая микроскопия

VT SPM

Описание оборудования

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Стабильные низкие значения тока важны для исследования чувствительных или плохо проводящих поверхностей. Для спектроскопии модуляции электронная компенсация уменьшает влияние паразитных токов, что экономит время сбора данных и улучшает результаты.

Ключевые особенности:

25 K — 1500 K
Реальная пикоамперная сканирующая туннельная микроскопия
Усовершенствованная спектроскопия dI/dV
АСМ
АСМ с датчиком QPlus
in-situ испарение

Системы зондовой микроскопии с переменной температурой Omicron успешно себя зарекомендовали во многих исследовательских лабораториях. На сегодняшний день по всему миру установлено более 500 приборов, а их качество, универсальность и высокая производительность подтверждается большим пулом результатов исследований и публикаций.

Функциональность

АСМ-изображение

Окисленных кристаллов сурьмы на ВОПГ. 2000×2000 нм, 200×200 pix, 20 000 нм/с. Dr. B. Kaiser, Германия

Кривая кантилевера

Пример фазовой/амплитудной кривой кантилевера (fрез=1,68 МГц), записанной с помощью системы контроля MATRIX

Кантилевер

Возвышающийся на держателе с возможностью замены зондов

Технология АСМ

для систем СЗМ

С переменной температурой основана на более чем 20-летнем опыте высоковакуумных АСМ. Она непрерывно развивается и улучшается. Классическая атомно-силовая микроскопия с ситемой регистрации отклонения кантилевера предлагает гибкость для многих режимов сканирования и типов кантилевера. Доступны высокоразрешающая АСМ, микроскопия сил трения, электростатическая силовая микроскопия, микроскопия зонда Кельвина и магнитная силовая микроскопия.

Особенности VT SPM

Последней главной разработкой является предусилитель АСМ, расширяющий диапазон полосы пропускания детектора от 450 кГц до 2 МГц. Благодаря сочетанию передовой электроники PPL и системы контроля MATRIX отныне пользователи могут работать с кантилеверами с высокой резонансной частотой для высокоскоростного бесконтакного сканирования.

Существующую комплектацию АСМ с переменной температурой можно модернизировать новейшей технологией предусиления совместно с усовершенствованным источником света. Новый датчик QPlus, основанный на кварцевом камертоне, расширяет область приложений систем СЗМ с переменной температурой.

В приложениях многофункциональной сверхвысоковакуумной СЗМ крайне важной является возможность замены кантилевера в условиях эксперимента, in-situ. В специально предназначенной камере может храниться до 12 кантилеверов! Различные зонды меняются посредством запатентованных драйверов пьезоуправляемого грубого позиционирования. Зонд перемещается через СВВ систему на специальной пластине, имеющей отверстие по типу «ключ-замок». Перенос осуществляется с помощью дистанционного управления пользователем с целью минимизации механических повреждений.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Микроскоп используется для получения изображений в высоком разрешении. Имеет большую область сканирования и очень низкий уровень шума.

Nanosurf customizing

Атомно-силовые микроскопы широко применяются в промышленности промышленности — производственных процессах и контроле качества.

Зондовая система Fermi SPM

Новый свервысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп для работы в диапазоне температур 15К - 400К. Отличное решение для спектроскопических задач.

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый (туннельный) микроскоп для исследовательских задач.

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии.

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Микроскоп применяется для совместного высокоразрешающего структурного, химического или магнитного анализа.

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Прибор может работать при низкой температуре T < 5 K. Детально анализирует диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности.

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов.