Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующий туннельный микроскоп, работающий при температуре ниже 5 K. Предназначен для исследования диффузионных процессов и атомных взаимодействий на поверхности.

Описание оборудования

   Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей. Визуализация и спектроскопия отдельных молекул, манипуляции атомами, графен, полупроводники и сверхпроводники — лишь некоторые из примеров приложений. 

   При низких температурах подвижность адсорбатов уменьшается, это позволяет детально анализировать диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности. Кроме этого, поскольку латеральная и вращательная подвижность оказываются «замороженными», появляется возможность изучать внутреннюю структуру молекул. Туннелирование становится более стабильным вследствие уменьшенной диффузии на зонде СТМ.

   Ключевые особенности:

   Работа при низкой температуре T < 5 K

  • Низкий температурный дрейф и высокая стабильность
  • Непревзойденная производительность STM/STS/IETS
  • Ведущая АСМ-технология QPlus
  • Работа с переменными температурами
  • Управляемое грубое 3D — позиционирование
  • Быстрое охлаждение
  • Безопасная и быстрая замена образца/кантилевера
Описание Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Функциональность
01
СТМ-изображение
 
02
Манипуляции атомами серебра
Арсенид галлия GaAs, высоко легированного акцепторами цинка, в режиме постоянного тока при T=4,7 К
03
Волны зарядовой плотности
Для формирования логотипа Omicron при 4,8 К
04
СТМ-изображение
На поверхности NbSe2 при T=5 К
05
Многочастичный эффект
Массива самоорганизующихся платиновых нанопроводов на поверхности гелия
Новое поколение сканирующих зондовых микроскопов в низкотемпературных

СТМ системах

   Второе поколение систем с увеличенным временем выдержки жидкого гелия и азота обладает высочайшей стабильностью и минимизированным дрейфом, предлагая непревзойденную производительность при 5 К и позволяя проводить сложнейшие очень длительные экспериментыю.

   Создание и исследование различных наноструктур молекул или атомных структур, изолирующих поверхностей создает потребность в атомно-силовой микроскопии как методе визуализации и спектроскопии, комплементарном туннельной микроскопии. Технология QPlus АСМ была успешно интегрирована без ущерба производительности СТМ/СТС.

   Комбинация метода QPlus АСМ и СТМ имеет колоссальный потенциал для ряда приложений, включая манипуляции и силовое воздействие на отдельные молекулы на изолированных поверхностях.

Особенности LT STM

   Стол специально разработан для лучшей производительности и реализует эффективную изолирующую систему, основанную на сочетании упругой подвески и вихретоковом затухании.

   Совместно с очень жесткой конструкцией сканирующей головки данный стол обеспечивает
отличную изоляцию вибраций на уровне пикометров.

   Поддерживая высокую производительность сегодня, системы LT STM непрерывно улучшаются для большей функциональности и гибкости.

   Возможны персональные решения. Некоторые из примеров включают предварительно смонтированные отверстия на оптических осях, дополнительный капилляр для интеграции стеклянных волокон и держателей линз.

   Датчик QPlus гарантирует атомарное разрешение бесконтактного режима АСМ, одновременно поддерживая высокую производительность LT STM. Эталонные измерения на одиночных кристаллах NaCl(100), KBr(001), Si(111)7×7 и Au(111) продемонстрировали конкурентоспособность по разрешающей способности в сравнении с лучшими результатами традиционной АСМ. Атомарное разрешение в продуманной петле обратной связи и при температурах ноже 6 К можно поддерживать с амплитудами колебаний ниже 100 пм.

   Датчик использует кварцевый камертон для распознавания силы в бесконтактном режиме АСМ. Один зубец вилки фиксируется, в то время как зонд СЗМ возвышается над вторым. Таким образом, он действует как кварцевый рычаг, преобразующий колебания в электрический сигнал в результате пьезоэлектрического эффекта. Сигнал обратной связи основан на сдвиге частоты, возникающей из силового взаимодействия зонда с образцом. Специально разработанный уникальный метод предусиления обеспечивает дистанционное управление, основанное на чистом АСМ-сигнале.

Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Высокопроизводительный микроскоп с большой областью сканирования и минимальным уровнем шума.
Nanosurf customizing Nanosurf customizing
Атомно-силовые микроскопы, адаптируемые под задачи промышленного контроля, исследований и процессов производства.
Зондовая система Fermi SPM Зондовая система Fermi SPM
Сверхвысоковакуумный микроскоп для работы в диапазоне температур от 15K до 400K. Оптимален для спектроскопических исследований поверхности.
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп компактного формата, предназначенный для исследовательских задач в области нанотехнологий.
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Четырехзондовая система с электронной колонной, объединяющая возможности наноманипулятора СЗМ и растровой электронной микроскопии.
MULTISCAN Lab ScientaOmicron MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Многофункциональный микроскоп для совместного структурного, химического и магнитного анализа с высоким пространственным разрешением.
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1 Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.
VT SPM VT SPM
Микроскоп с переменной температурой, оснащённый современными предусилителями для субпикоамперной туннельной микроскопии и спектроскопии.
Large Sample SPM Large Sample SPM
Сканирующий зондовый микроскоп для исследования больших образцов диаметром до 4 дюймов. Основан на проверенных решениях серии VT и обеспечивает высокую стабильность измерений.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54