Сканирующая зондовая микроскопия

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Четырехзондовая система с электронной колонной, объединяющая возможности наноманипулятора СЗМ и растровой электронной микроскопии.

Описание оборудования

   Внедрение отдельных наноустройств в огромную интегрированную схему является вызовом в области нанотехнологий. Современные исследования требуют вычисления локальных электрических параметров в сочетании с возможностью навигации зонда, что меняет размерность из области микрон в область нанометров.

   Четырехточечный нанозонд NANOPROBE представляет собой искусный аналитический инструмент для локальных неинвазивных контактных измерений в четырех точках и функционального тестирования наноустройств в составе сложных схем и структур. Ключом к продвинутой технологии зондирования на наномасштабе служит зарекомендованная СЗМ Omicron, обеспечивающая высокую точность позиционирования зонда и безопасный подвод хрупкого острия диаметром несколько десятых нанометра и меньше.


   Ключевые особенности:
  • Четырехточечные измерения наноструктур (четырехточечный зонд)
  • Электрический контакт наноустройств
  • Безопасный и неразрушительный подвод зонда
  • Все возможности СТМ
  • Высокоразрешающая (<4 нм) визуализация СТМ для быстрой навигации зонда
  • Высокоразрешающая (<10 нм) визуализация СТМ для химического картирования
  • Реальные условия СВВ для создания чистой поверхности без артефактов
Описание Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Визуализация с помощью

СЭМ для быстрой навигации зонда

Для навигации четрырьмя зондами СТМ необходима возможность одновременного сканирования электронным микроскопом. Это обеспечивает широкое поле обзора для грубой регулировки положения зондов, а также тонкой настройки положения и быстрой локализации над нанометровыми структурами
Для быстрой настройки положения СВВ

   Колонна Gemini обеспечивает доступ для химического картирования с помощью растровой оже-микроскопии, магнитной визуализации с помощью СЭМ с поляризационным анализом или других методов электронной спектроскопии. Уникальная возможность использования различных методик в одной области образца позволяет получать комплементарную информацию о проводимости, топографии, химических и магнитных свойствах.

   Улучшение разрешения в СВВ приборе NANOPROBE значительно влияет на возможности зондирующей системы. Локализация мельчайших структур и быстрое точное управление положением зонда теперь возможно при одновременной работе СТМ и СЭМ. Производительность СТМ не снижается даже в случае близких значений тока пучка СЭМ и туннельного тока.

   Низкоэнергетичный пучок в колонне Gemini снижает до минимума риск повреждения чувствительных образцов и делает возможной визуализацию практически непроводящих образцов благодаря минимизации зарядового эффекта в диапазоне энергий 1 кэВ. Условия сверхвысокого вакуума и отсутсвие углеводородов обеспечивают стабильное сканирование в сверхчистых условиях и позволяют избежать вызванное электронным пучком формирование графита. В случае, если сверхразрешение не требуется, можно использовать различные другие колонны СВВ СЭМ или оптические микроскопы.

Видео
LT NANOPROBE Film Neu
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Высокопроизводительный микроскоп с большой областью сканирования и минимальным уровнем шума.
Nanosurf customizing Nanosurf customizing
Атомно-силовые микроскопы, адаптируемые под задачи промышленного контроля, исследований и процессов производства.
Зондовая система Fermi SPM Зондовая система Fermi SPM
Сверхвысоковакуумный микроскоп для работы в диапазоне температур от 15K до 400K. Оптимален для спектроскопических исследований поверхности.
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп компактного формата, предназначенный для исследовательских задач в области нанотехнологий.
MULTISCAN Lab ScientaOmicron MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Многофункциональный микроскоп для совместного структурного, химического и магнитного анализа с высоким пространственным разрешением.
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1 Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующий туннельный микроскоп, работающий при температуре ниже 5 K. Предназначен для исследования диффузионных процессов и атомных взаимодействий на поверхности.
VT SPM VT SPM
Микроскоп с переменной температурой, оснащённый современными предусилителями для субпикоамперной туннельной микроскопии и спектроскопии.
Large Sample SPM Large Sample SPM
Сканирующий зондовый микроскоп для исследования больших образцов диаметром до 4 дюймов. Основан на проверенных решениях серии VT и обеспечивает высокую стабильность измерений.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54