Сканирующая зондовая микроскопия

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии.

Описание оборудования

   Внедрение отдельных наноустройств в огромную интегрированную схему является вызовом в области нанотехнологий. Современные исследования требуют вычисления локальных электрических параметров в сочетании с возможностью навигации зонда, что меняет размерность из области микрон в область нанометров.

   Четырехточечный нанозонд NANOPROBE представляет собой искусный аналитический инструмент для локальных неинвазивных контактных измерений в четырех точках и функционального тестирования наноустройств в составе сложных схем и структур. Ключом к продвинутой технологии зондирования на наномасштабе служит зарекомендованная СЗМ Omicron, обеспечивающая высокую точность позиционирования зонда и безопасный подвод хрупкого острия диаметром несколько десятых нанометра и меньше.


   Ключевые особенности:
  • Четырехточечные измерения наноструктур (четырехточечный зонд)
  • Электрический контакт наноустройств
  • Безопасный и неразрушительный подвод зонда
  • Все возможности СТМ
  • Высокоразрешающая (<4 нм) визуализация СТМ для быстрой навигации зонда
  • Высокоразрешающая (<10 нм) визуализация СТМ для химического картирования
  • Реальные условия СВВ для создания чистой поверхности без артефактов
Описание Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Визуализация с помощью

СЭМ для быстрой навигации зонда

Для навигации четрырьмя зондами СТМ необходима возможность одновременного сканирования электронным микроскопом. Это обеспечивает широкое поле обзора для грубой регулировки положения зондов, а также тонкой настройки положения и быстрой локализации над нанометровыми структурами
Для быстрой настройки положения СВВ

   Колонна Gemini обеспечивает доступ для химического картирования с помощью растровой оже-микроскопии, магнитной визуализации с помощью СЭМ с поляризационным анализом или других методов электронной спектроскопии. Уникальная возможность использования различных методик в одной области образца позволяет получать комплементарную информацию о проводимости, топографии, химических и магнитных свойствах.

   Улучшение разрешения в СВВ приборе NANOPROBE значительно влияет на возможности зондирующей системы. Локализация мельчайших структур и быстрое точное управление положением зонда теперь возможно при одновременной работе СТМ и СЭМ. Производительность СТМ не снижается даже в случае близких значений тока пучка СЭМ и туннельного тока.

   Низкоэнергетичный пучок в колонне Gemini снижает до минимума риск повреждения чувствительных образцов и делает возможной визуализацию практически непроводящих образцов благодаря минимизации зарядового эффекта в диапазоне энергий 1 кэВ. Условия сверхвысокого вакуума и отсутсвие углеводородов обеспечивают стабильное сканирование в сверхчистых условиях и позволяют избежать вызванное электронным пучком формирование графита. В случае, если сверхразрешение не требуется, можно использовать различные другие колонны СВВ СЭМ или оптические микроскопы.

Видео
LT NANOPROBE Film Neu
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Микроскоп используется для получения изображений в высоком разрешении. Имеет большую область сканирования и очень низкий уровень шума.
Nanosurf customizing Nanosurf customizing
Атомно-силовые микроскопы широко применяются в промышленности промышленности — производственных процессах и контроле качества.
Зондовая система Fermi SPM Зондовая система Fermi SPM
Новый свервысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп для работы в диапазоне температур 15К - 400К. Отличное решение для спектроскопических задач.
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый (туннельный) микроскоп для исследовательских задач.
MULTISCAN Lab ScientaOmicron MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Микроскоп применяется для совместного высокоразрешающего структурного, химического или магнитного анализа.
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1 Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Прибор может работать при низкой температуре T < 5 K. Детально анализирует диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности.
VT SPM VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии.
Large Sample SPM Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54