Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия Nanosurf customizing

Сканирующая зондовая микроскопия

Nanosurf customizing

Возможности атомно-силовой микроскопии полностью по Вашим предпочтениям

Атомно-силовые микроскопы, адаптируемые под задачи промышленного контроля, исследований и процессов производства.

Описание оборудования

Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач. В таких случаях, когда вам нужно полностью интегрировать АСМ в процесс или ваши образцы слишком велики для стандартных установок, Nanosurf предлагает уникальные услуги по проектированию и разработке пользовательских систем АСМ, полностью адаптированных под нужды заказчика.

Примеры:
1. Исследование одной и той же области образца с помощью оптической микроскопии (с использованием инвертированного микроскопа) и с помощью АСМ (FlexAFM)
2. Автоматизированный переносной столик XYZ и гониометр. Специально разработан для очень точного выравнивания образцов
3. Автоматизированный переносной столик XY для атомно-силового микроскопа NaniteAFM
4. Многофункциональный держатель для кантилеверов
5. Автоматизированный стол для контроля крупногабаритных образцов
6. Автоматизированный стол для контроля сверхтяжелых образцов

Функциональность

Автоматизированный переносной столик XY для атомно-силового микроскопа NaniteAFM

Многофункциональный держатель для кантилеверов

АСМ (FlexAFM)

Автоматизированный переносной столик XYZ и гониометр

Видео

Motorized XYZ translation stage for extra large samples

NaniteAFM Large Custom Automated Translation Stage

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Высокопроизводительный микроскоп с большой областью сканирования и минимальным уровнем шума.

Зондовая система Fermi SPM

Сверхвысоковакуумный микроскоп для работы в диапазоне температур от 15K до 400K. Оптимален для спектроскопических исследований поверхности.

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп компактного формата, предназначенный для исследовательских задач в области нанотехнологий.

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Четырехзондовая система с электронной колонной, объединяющая возможности наноманипулятора СЗМ и растровой электронной микроскопии.

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Многофункциональный микроскоп для совместного структурного, химического и магнитного анализа с высоким пространственным разрешением.

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Сканирующий туннельный микроскоп, работающий при температуре ниже 5 K. Предназначен для исследования диффузионных процессов и атомных взаимодействий на поверхности.

VT SPM

Микроскоп с переменной температурой, оснащённый современными предусилителями для субпикоамперной туннельной микроскопии и спектроскопии.

Large Sample SPM

Сканирующий зондовый микроскоп для исследования больших образцов диаметром до 4 дюймов. Основан на проверенных решениях серии VT и обеспечивает высокую стабильность измерений.