Сканирующая зондовая микроскопия

Large Sample SPM

Large Sample SPM

Описание оборудования

   СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов. 

   Ключевые особенности:
  • образцы диаметром вплоть до 4 дюймов
  • реальная пикоамперная СТМ
  • усовершенствованная спектроскопия dI/dV
  • классическая АСМ с системой отклонения кантилевера
  • АСМ с датчиком QPlus
  • опция подсистемы
  • совместим с линейкой Fab
   Интеграция

   Конструкция прибора легко позволяет совмещать его с приборами молеулярно-пучковой эпитаксии и изготовления полупроводниковых пластин. СЗМ для больших образцов размещаются в специально разработанных камерах и имеют внутреннюю пружинную подвеску и вихретоковое демпфирование. Камера может непосредственно устанавливаться на существующую вакуумную систему.

   При работе с некоторыми системами (такими, как системы с большими механическими насосами или криогенными генераторами) возникают критически высокие уровни вибраций. Для таких случаев разработана специальная подсистема с высокопроизводительным механизмом подавления вибраций.

Замена зонда и образца

   СЗМ для больших образцов обладает возможностью управления образцом. Линейный привод осуществляет перемещение образца в камеру микроскопа, где он далее размещается на погрузочное устройство и опускается на столик микроскопа для осуществления сканирования.

Вихретоковое демфирование

   Вместе с микроскопом UHV STM1 компания Omicron представила систему вихретокового демпфирования, установившую новую веху в технологии высоковакуумных СЗМ. Она типична для всех систем СЗМ Omicron и обеспечивает высокое разрешение сканирующей туннельной микроскопии даже в неидеальных условиях на протяжении уже более 25 лет

Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Nanosurf customizing Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1 Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
VT SPM VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-12-67