Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Ключевые особенности:

образцы диаметром вплоть до 4 дюймов
реальная пикоамперная СТМ
усовершенствованная спектроскопия dI/dV
классическая АСМ с системой отклонения кантилевера
АСМ с датчиком QPlus
опция подсистемы
совместим с линейкой Fab

Интеграция

Конструкция прибора легко позволяет совмещать его с приборами молеулярно-пучковой эпитаксии и изготовления полупроводниковых пластин. СЗМ для больших образцов размещаются в специально разработанных камерах и имеют внутреннюю пружинную подвеску и вихретоковое демпфирование. Камера может непосредственно устанавливаться на существующую вакуумную систему.

При работе с некоторыми системами (такими, как системы с большими механическими насосами или криогенными генераторами) возникают критически высокие уровни вибраций. Для таких случаев разработана специальная подсистема с высокопроизводительным механизмом подавления вибраций.

Замена зонда и образца

СЗМ для больших образцов обладает возможностью управления образцом. Линейный привод осуществляет перемещение образца в камеру микроскопа, где он далее размещается на погрузочное устройство и опускается на столик микроскопа для осуществления сканирования.

Вихретоковое демфирование

Вместе с микроскопом UHV STM1 компания Omicron представила систему вихретокового демпфирования, установившую новую веху в технологии высоковакуумных СЗМ. Она типична для всех систем СЗМ Omicron и обеспечивает высокое разрешение сканирующей туннельной микроскопии даже в неидеальных условиях на протяжении уже более 25 лет

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Микроскоп используется для получения изображений в высоком разрешении. Имеет большую область сканирования и очень низкий уровень шума.

Nanosurf customizing

Атомно-силовые микроскопы широко применяются в промышленности промышленности — производственных процессах и контроле качества.

Зондовая система Fermi SPM

Новый свервысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп для работы в диапазоне температур 15К - 400К. Отличное решение для спектроскопических задач.

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый (туннельный) микроскоп для исследовательских задач.

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии.

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Микроскоп применяется для совместного высокоразрешающего структурного, химического или магнитного анализа.

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Прибор может работать при низкой температуре T < 5 K. Детально анализирует диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности.

VT SPM

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии.