Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый (туннельный) микроскоп для исследовательских задач

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп компактного формата, предназначенный для исследовательских задач в области нанотехнологий.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron. Жесткая конструкция прибора идеально подходит для сканирования СЗМ с высоким разрешением. СВВ СЗМ размещается на экспериментальной камере, имеющей все необходимые инструменты для загрузки и приготовления образца. Камеру легко можно оснастить дополнительным оборудованием для приготовления и анализа образца. Порты камеры продуманы для светодиодной оптики, испарительных установок, ионного источника с ионно-плазменным напылением, анализаторов остаточных газов, инструментов обзора образца, экспериментов с давлением и вакуумных насосов.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Высокопроизводительный микроскоп с большой областью сканирования и минимальным уровнем шума.

Nanosurf customizing

Атомно-силовые микроскопы, адаптируемые под задачи промышленного контроля, исследований и процессов производства.

Зондовая система Fermi SPM

Сверхвысоковакуумный микроскоп для работы в диапазоне температур от 15K до 400K. Оптимален для спектроскопических исследований поверхности.

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Четырехзондовая система с электронной колонной, объединяющая возможности наноманипулятора СЗМ и растровой электронной микроскопии.

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Многофункциональный микроскоп для совместного структурного, химического и магнитного анализа с высоким пространственным разрешением.

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Сканирующий туннельный микроскоп, работающий при температуре ниже 5 K. Предназначен для исследования диффузионных процессов и атомных взаимодействий на поверхности.

VT SPM

Микроскоп с переменной температурой, оснащённый современными предусилителями для субпикоамперной туннельной микроскопии и спектроскопии.

Large Sample SPM

Сканирующий зондовый микроскоп для исследования больших образцов диаметром до 4 дюймов. Основан на проверенных решениях серии VT и обеспечивает высокую стабильность измерений.