Сканирующая зондовая микроскопия

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый (туннельный) микроскоп для исследовательских задач
Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый (туннельный) микроскоп для исследовательских задач. Является компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron.

Описание оборудования

   СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron. Жесткая конструкция прибора идеально подходит для сканирования СЗМ с высоким разрешением. СВВ СЗМ размещается на экспериментальной камере, имеющей все необходимые инструменты для загрузки и приготовления образца. Камеру легко можно оснастить дополнительным оборудованием для приготовления и анализа образца. Порты камеры продуманы для светодиодной оптики, испарительных установок, ионного источника с ионно-плазменным напылением, анализаторов остаточных газов, инструментов обзора образца, экспериментов с давлением и вакуумных насосов.

Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Микроскоп используется для получения изображений в высоком разрешении. Имеет большую область сканирования и очень низкий уровень шума.
Nanosurf customizing Nanosurf customizing
Атомно-силовые микроскопы широко применяются в промышленности промышленности — производственных процессах и контроле качества.
Зондовая система Fermi SPM Зондовая система Fermi SPM
Новый свервысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп для работы в диапазоне температур 15К - 400К. Отличное решение для спектроскопических задач.
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии.
MULTISCAN Lab ScientaOmicron MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Микроскоп применяется для совместного высокоразрешающего структурного, химического или магнитного анализа.
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1 Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Прибор может работать при низкой температуре T < 5 K. Детально анализирует диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности.
VT SPM VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии.
Large Sample SPM Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54