Сканирующая зондовая микроскопия

Зондовая система Fermi SPM

Зондовая система Fermi SPM
Зондовая система Fermi SPM
Зондовая система Fermi SPM
Зондовая система Fermi SPM
Универсальная зондовая система
Сверхвысоковакуумный микроскоп для работы в диапазоне температур от 15K до 400K. Оптимален для спектроскопических исследований поверхности.

Описание оборудования

   Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К. Эти системы были специально разработаны с целью объединить высокую производительность в спектроскопии систем LT STM и концепцию гибкости систем серии VT.

   Компактная конструкция прибора включает криостат на жидком гелии. В сравнении с серией VT (где охлаждается образец, а зонд поддерживается при комнатной температуре), тепловые барьеры в СЗМ Fermi сохраняют зонд и образец при низких температурах на протяжении всех экспериментов. Это гарантирует минимальность дрейфа между зондом и образцом, делая СЗМ Fermi идеальными инструментами для визуализации, туннельной спектроскопии и экспериментов по манипуляции отдельными атомами.

   Конструкция располагается на фланце DN 100 CF и легко интегрируется с дополнительным оборудованием.

Описание Зондовая система Fermi SPM
Компактная конструкция сканера

Fermi SPM

Новый миниатюрный и жестко закрепляемый сканер с держателем небольших зондов обеспечивает высокоскоростное стабильное сканирование. Образец размещается на устройстве предварительного грубого позиционирования для его расположения по осям X и Z. Реализованы два порта для оптического доступа и один порт для экспериментов, требующих испарения. Опционально доступны 4 электрических контакта с образцом, а также АСМ с датчиком QPlus.
Уникальная возможность смены зондов в ходе эксперимента
   Уникальный механизм замены зондов для СЗМ Fermi позволяет сохранять положение образца при низкой температуре и безопасно и быстро при этом менять зонд. Для доставки зондов используется концевой выключатель и специальная платформа. Сам зонд вставляется в сканер посредством штыкового соединения в течение секунд. Продуманная конструкция не допускает повреждения сканера. Задвижка тепловой изоляции быстро открывается для замены зонда с использованием концевого выключателя. Образец при этом остается внутри микроскопа при низкой температуре.
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Высокопроизводительный микроскоп с большой областью сканирования и минимальным уровнем шума.
Nanosurf customizing Nanosurf customizing
Атомно-силовые микроскопы, адаптируемые под задачи промышленного контроля, исследований и процессов производства.
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп компактного формата, предназначенный для исследовательских задач в области нанотехнологий.
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Четырехзондовая система с электронной колонной, объединяющая возможности наноманипулятора СЗМ и растровой электронной микроскопии.
MULTISCAN Lab ScientaOmicron MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Многофункциональный микроскоп для совместного структурного, химического и магнитного анализа с высоким пространственным разрешением.
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1 Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующий туннельный микроскоп, работающий при температуре ниже 5 K. Предназначен для исследования диффузионных процессов и атомных взаимодействий на поверхности.
VT SPM VT SPM
Микроскоп с переменной температурой, оснащённый современными предусилителями для субпикоамперной туннельной микроскопии и спектроскопии.
Large Sample SPM Large Sample SPM
Сканирующий зондовый микроскоп для исследования больших образцов диаметром до 4 дюймов. Основан на проверенных решениях серии VT и обеспечивает высокую стабильность измерений.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54