Сканирующая зондовая микроскопия

Зондовая система Fermi SPM

Зондовая система Fermi SPM
Зондовая система Fermi SPM
Зондовая система Fermi SPM
Зондовая система Fermi SPM
Универсальная зондовая система
Новый свервысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп для работы в диапазоне температур 15 К - 400 К. Данная модель специально разработана для отличное решение для спектроскопических задач по сочетанию цена/качество/гибкость. Оптимальный прибор для пользователей с серьезным уклоном на приложения туннельной спектроскопии.

Описание оборудования

   Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К. Эти системы были специально разработаны с целью объединить высокую производительность в спектроскопии систем LT STM и концепцию гибкости систем серии VT.

   Компактная конструкция прибора включает криостат на жидком гелии. В сравнении с серией VT (где охлаждается образец, а зонд поддерживается при комнатной температуре), тепловые барьеры в СЗМ Fermi сохраняют зонд и образец при низких температурах на протяжении всех экспериментов. Это гарантирует минимальность дрейфа между зондом и образцом, делая СЗМ Fermi идеальными инструментами для визуализации, туннельной спектроскопии и экспериментов по манипуляции отдельными атомами.

   Конструкция располагается на фланце DN 100 CF и легко интегрируется с дополнительным оборудованием.

Описание Зондовая система Fermi SPM
Компактная конструкция сканера

Fermi SPM

Новый миниатюрный и жестко закрепляемый сканер с держателем небольших зондов обеспечивает высокоскоростное стабильное сканирование. Образец размещается на устройстве предварительного грубого позиционирования для его расположения по осям X и Z. Реализованы два порта для оптического доступа и один порт для экспериментов, требующих испарения. Опционально доступны 4 электрических контакта с образцом, а также АСМ с датчиком QPlus.
Уникальная возможность смены зондов в ходе эксперимента
   Уникальный механизм замены зондов для СЗМ Fermi позволяет сохранять положение образца при низкой температуре и безопасно и быстро при этом менять зонд. Для доставки зондов используется концевой выключатель и специальная платформа. Сам зонд вставляется в сканер посредством штыкового соединения в течение секунд. Продуманная конструкция не допускает повреждения сканера. Задвижка тепловой изоляции быстро открывается для замены зонда с использованием концевого выключателя. Образец при этом остается внутри микроскопа при низкой температуре.
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Микроскоп используется для получения изображений в высоком разрешении. Имеет большую область сканирования и очень низкий уровень шума.
Nanosurf customizing Nanosurf customizing
Атомно-силовые микроскопы широко применяются в промышленности промышленности — производственных процессах и контроле качества.
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый (туннельный) микроскоп для исследовательских задач.
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии.
MULTISCAN Lab ScientaOmicron MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Микроскоп применяется для совместного высокоразрешающего структурного, химического или магнитного анализа.
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1 Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Прибор может работать при низкой температуре T < 5 K. Детально анализирует диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности.
VT SPM VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии.
Large Sample SPM Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54