Сканирующая зондовая микроскопия

Широчайший спектр оборудования для сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии): системы с переменной температурой образца, низкотемпературные модификации, системы для крупных образов. Данные приборы доступны как отдельно стоящие системы зондовой микроскопии, или же как компоненты кластерных установок, исполненные по индивидуальному заказу наших клиентов.

Смотреть оборудование Получить консультацию

Категория:

Подкатегория:

Бренд:

Область применения:

Товары раздела

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов.

VT SPM

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии.

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Прибор может работать при низкой температуре T < 5 K. Детально анализирует диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности.

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Прибор является эталоном стабильности и высокой производительности экспериментов сканирующей туннельной микроскопии.

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Микроскоп применяется для совместного высокоразрешающего структурного, химического или магнитного анализа.

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии.