Рентгеновские фотоэлектронные спектроскопы (РФЭС)

Спектрометр Nexsa G2 XPS System

Спектрометр Nexsa G2 XPS System
Спектрометр Nexsa G2 XPS System
Thermo Fisher Scientific Inc.
Автоматизированный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр для высокопроизводительного анализа поверхности. Объединяет пять методов: XPS, ISS, UPS, REELS и Рамановскую спектроскопию для комплексных исследований. Дополнительные опции нагрева и смещения образца расширяют экспериментальные возможности.

Описание оборудования

Система Thermo Scientific Nexsa G2 представляет собой современный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с полной автоматизацией процессов и высокой производительностью исследований поверхности.

Уникальность решения заключается в комбинации пяти аналитических методик: рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS), спектроскопии ионного рассеяния (ISS), УФ фотоэлектронной спектроскопии (UPS), спектроскопии отраженных электронных потерь энергии (REELS) и Рамановской спектроскопии, что обеспечивает всестороннюю характеристику образцов. Дополнительные функциональные возможности, включая нагрев и электрическое смещение образцов, существенно расширяют исследовательский потенциал системы, позволяя проводить сложные многофакторные эксперименты.

Особенности системы анализа поверхности Nexsa G2

  • Высокопроизводительный рентгеновский источник
Новая конструкция монохроматора позволяет выбирать область анализа от 10 до 400 мкм с шагом 5 мкм, обеспечивая сбор данных с нужного участка при максимальном сигнале.

  • Оптимизированная электронная оптика
Высокоэффективная линза, гемисферический анализатор и детектор обеспечивают превосходную детектируемость и быстрое получение данных.

  • Наблюдение образца в XPS
Патентованная оптическая система просмотра и функция XPS SnapMap позволяют быстро фокусироваться на интересующих областях образца.

  • Анализ диэлектриков методом XPS
Патентованный двухлучевой источник компенсации заряда сочетает низкоэнергетические ионные пучки с электронами очень низкой энергии (менее 1 эВ), предотвращая зарядку образца во время анализа, что в большинстве случаев устраняет необходимость в референсном заряде.

  • Глубинное профилирование XPS
Ионный источник EX06 позволяет исследовать ниже поверхности. Автоматическая оптимизация источника и управление газом обеспечивают отличную производительность и воспроизводимость экспериментов.

Преимущества

  • Высокочувствительный XPS-анализ
  • Расширенные возможности анализа
  • Усовершенствованное глубинное профилирование
Особенности
  • Дополнительные держатели образцов для XPS — расширьте возможности с помощью специализированных держателей для XPS с угловым разрешением, держателей для измерений с приложенным смещением, держателей для безопасного переноса из перчаточного бокса
  • Программное обеспечение Avantage — управление прибором, обработка данных и создание отчетов осуществляются через ПО Thermo Scientific Avantage, включающее Knowledge View - комплексный источник обучающих материалов и справочной информации
  • Корреляционная визуализация XPS и рабочий процесс анализа поверхности — сопоставляйте данные XPS с SEM-изображениями через корреляционную визуализацию и рабочий процесс анализа поверхности с использованием Thermo Scientific Maps Software

Основные характеристики

Тип анализатора 180° двухфокусный гемисферический анализатор с 128-канальным детектором
Тип рентгеновского источника Источник Al Kα с низкой мощностью
Размер рентгеновского пятна 10–400 мкм (регулируемый с шагом 5 мкм)
Глубинное профилирование Ионный источник EX06 (моноатомный) или MAGCIS (двухрежимный)
Максимальная площадь образца 60 × 60 мм
Максимальная толщина образца 20 мм
Вакуумная система Два турбомолекулярных насоса с автоматическим титановым сублимационным насосом и форвакуумным насосом
Дополнительные аксессуары Модули UPS, ISS, REELS, Рамановский спектрометр, MAGCIS, Модуль наклона образца, Модуль нагрева образца NX, Модуль подачи смещения, Модуль переноса, Адаптер для интеграции с перчаточным боксом
Похожее оборудование
Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe
Высокочувствительный и гибко настраиваемый рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с уникальной двухдетекторной системой для прецизионного анализа поверхности.
Спектрометр K-Alpha XPS System Спектрометр K-Alpha XPS System
Спектрометр представляет новый подход к анализу поверхности, сочетая оптимизированный рабочий процесс и удобное управление с сохранением высокого качества результатов и расширенными аналитическими возможностями.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54