Спектрометр K-Alpha XPS System

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Thermo Scientific K-Alpha XPS представляет новый подход к исследованию поверхностей. Эта система сочетает высокое качество анализа с оптимизированным рабочим процессом, делая работу с XPS простой и интуитивно понятной без компромиссов в производительности.

Спектрометрическая система K-Alpha XPS создана для эффективной работы - от научных исследований до рутинных анализов. Она обеспечивает значительно улучшенные спектроскопические характеристики, что позволяет сократить время анализа, повысить чувствительность детектирования элементов и получать данные с высоким разрешением для точного определения химических состояний.

Система предлагает расширенные аналитические возможности, включая вакуумный модуль переноса для работы с чувствительными образцами и наклонный модуль для ARXPS-исследований. Оснащенная программным обеспечением Thermo Scientific Avantage для полного анализа поверхности, система обладает рядом функций для оптимизации интерпретации данных, подготовки отчетов и удобства работы. K-Alpha XPS удовлетворяет требованиям как опытных специалистов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, так и начинающих пользователей, объединяя высокую производительность монохроматического XPS, послойное распыление для глубинного профилирования, интеллектуальную автоматизацию и интуитивное управление.

Высокая производительность

Система K-Alpha XPS сочетает мощные аналитические возможности с непревзойденной простотой использования, соответствуя самым строгим отраслевым стандартам. Она обеспечивает передовые функции, включая спектроскопию выбранной области, послойное распыление для глубинного профилирования, микрофокусированный монохроматор и моментальный захват данных. Получайте высокоточные результаты благодаря спектроскопии химических состояний с высоким разрешением, анализу диэлектриков и количественному химическому картированию.

Интуитивно понятное управление

Платформа значительно упрощает процесс получения спектров, изображений, профилей и линейных сканирований, автоматически идентифицируя элементы и их химические состояния. Встроенные функции обработки данных включают количественный анализ, аппроксимацию пиков, отображение профилей в реальном времени, работу со спектральными изображениями, PCA-анализ, фазовый анализ, TFA, NLLSF, удаление PSF, а также наложение оптических и XPS-изображений. Автоматическая генерация отчетов и экспорт данных в другие программные пакеты делают работу максимально эффективной.

Полноценное управление оборудованием осуществляется через интерфейс программного обеспечения Avantage, который также включает Avantage Indexer для удобного архивирования данных. Система обеспечивает точность измерений и соответствие стандартам благодаря ведению логов, мониторингу производительности и калибровке по требованию. Возможность полного удаленного управления делает K-Alpha XPS идеальным решением для любых аналитических задач.

Ключевые особенности системы K-Alpha XPS

Спектрометр K-Alpha XPS предоставляет уникальное сочетание высокой производительности и удобства работы, отвечая самым строгим промышленным требованиям. Воспользуйтесь передовыми возможностями, такими как спектроскопия выбранной области, послойное распыление для глубинного анализа, микрофокусированный монохроматор и моментальный захват данных.

• Рентгеновский источник с монохромтаором — монохроматор позволяет выбирать область анализа от 50 до 400 мкм с шагом 5 мкм, точно подстраиваясь под исследуемый участок для максимального сигнала
• Оптимизированная оптика — высокоэффективная электронная линза, гемисферический анализатор и детектор обеспечивают превосходную чувствительность и быстрое получение данных
• Наблюдение за образцом — патентованная оптическая система просмотра и XPS SnapMap позволяют быстро фокусироваться на ключевых участках образца
• Анализ диэлектриков — патентованный двухлучевой источник компенсации заряда сочетает низкоэнергетические ионы и электроны (<1 эВ), предотвращая накопление заряда на образце. В большинстве случаев это исключает необходимость дополнительной компенсации заряда
• Глубинное профилирование — ионный источник EX06 с автоматической оптимизацией и управлением газоподачей обеспечивает высокую воспроизводимость экспериментов при послойном анализе
• Дополнительные держатели образцов — доступны специализированные держатели для углового разрешения в XPS, измерений с приложением смещения, инертного переноса из перчаточного бокса
• Программное обеспечение Avantage — интуитивный интерфейс делает систему K-Alpha идеальной как для мультипользовательских лабораторий, так и для экспертов, ценящих высокую производительность и эффективность анализа