Рентгеновские фотоэлектронные спектроскопы (РФЭС)

Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe

Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe
Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe
Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe
Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe
Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe
Thermo Fisher Scientific Inc.
Высокочувствительный и гибко настраиваемый рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с уникальной двухдетекторной системой для прецизионного анализа поверхности. В базовой комплектации поддерживает методы XPS, ISS и REELS, с возможностью расширения функционала (HAXPES, AES, UPS, Рамановская спектроскопия, IPES). Интегрированное ПО Avantage обеспечивает полный контроль измерений и обработку данных.

Описание оборудования

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Thermo Scientific ESCALAB QXi сочетает высочайшую чувствительность и разрешение с количественным картированием и комплексными возможностями, обеспечивая беспрецедентную аналитическую производительность и гибкость исследований.

Это расширяемая оптимизированная система, предлагающая:
  • Превосходные характеристики XPS для спектроскопии и визуализации в высоком разрешении
  • Опциональный монохроматор с автоматическим переключением на источник Ag для исследований методом HAXPES
  • Уникальную двухдетекторную систему для сверхточного картирования с высоким пространственным разрешением
  • Мгновенное получение качественных спектров благодаря исключительной чувствительности

Ключевые особенности рентгеновского микроанализатора ESCALAB QXi


  1. Прибор оснащен инновационным двухкристальным монохроматором с фокусировкой микропучка:
  • Рабочий круг Роуланда имеет диаметр 500 мм
  • Существует выбора между алюминиевым или комбинированным Al/Ag анодом
  • Имеется плавная регулировка размера аналитического пятна от 200 до 900 микрон

  1. Прецизионная система детектирования. Специально разработанная оптическая схема включает:
  • Два независимых детекторных модуля
  • Унифицированные параметры для спектроскопии и визуализации
  • Детектор для высокоточной микроскопии

  1. Система нейтрализации заряда сочетает:
  • Коаксиальный электронный источник для нейтрализации заряда на диэлектриках
  • Дополнительный flood-источник с низкоэнергетическими ионами и электронами (активен при выключенной магнитной линзе)

  1. Пушки для XPS:
  • Базовая ионная пушка EX06
  • Опциональная MAGCIS с поддержкой: кластерного профилирования, моноатомного профилирования, ISS

  1. Программная экосистема Avantage:
  • Возможен полный удаленный контроль за измерениями
  • Knowledge View: база обучающих материалов и справочников
  • Автоматизированная калибровка и обработка данных

  1. Комплексные измерения. Платформа поддерживает:
  • Базовая комплектация: XPS, ISS, REELS
  • Опциональные модули: UPS, AES, HAXPES, Рамановская спектроскопия, IPES

  1. В комплект поставки входит калибровочный блок с образцами меди, серебра и золота, предназначенный для оценки чувствительности системы, установки линейности энергетической шкалы анализатора, калибровки ионного источника, юстировки рентгеновского монохроматора и определения передаточной функции анализатора.

  1. Высоковакуумная система. Конструктивные особенности:
  • Камера анализа из мю-металла (5 мм) для магнитного экранирования
  • Турбомолекулярный + титановый сублимационный насосы
  • Давление <5×10⁻¹⁰ мбар

  1. Стандартная камера пробоподготовки Preploc представляет собой комбинированный шлюзовой модуль для ввода и подготовки образцов, оснащенный портами для подключения различного вспомогательного оборудования, включая нагревательные и охлаждающие зонды, ионные пушки, камеры для обработки в газовой среде под высоким давлением, стойки для временного хранения образцов и системы подачи газов.

Преимущества

  • Превосходное разрешение измерений по энергии
  • Комплексный анализ поверхности даже в базовой конфигурации
  • Модульная архитектура для расширения возможностей
  • Гибкие решения для пробоподготовки
Особенности
  • Интегрированная платформа — управление, сбор и обработка данных полностью автоматизированы в программном обеспечении Avantage, обеспечивая воспроизводимость мирового уровня
  • Гибкость для решения сложных задач — модульная архитектура поддерживает разнообразные методы пробоподготовки и интеграцию с дополнительным вакуумным оборудованием
  • Идеальное решение для передовых исследований в области нанотехнологий, катализа, энергетики и функциональных материалов

Основные характеристики

Рентгеновский источник с монохроматором Основной источник Al Kα с возможностью замены на автоматический двуханодный вариант (Al Kα/Ag Lα) для расширенного анализа
Энергоанализатор Гемисферический анализатор на 180° с двойной фокусировкой и биполярной конструкцией, оснащенный раздельными детекторами для спектральных измерений и пространственного картирования
Источник ионов Базовая комплектация включает моноатомную пушку EX06 с возможностью дополнения универсальным источником MAGCIS, поддерживающим несколько режимов работы
Система вакуумирования Комплексная откачка с использованием двух турбомолекулярных насосов (для шлюзовой и аналитической камер) с опцией безмасляных форвакуумных насосов, дополненная автоматическим титановым сублимационным насосом
Позиционирование образцов Пятикоординатный манипулятор с термостатированием
Дополнительно доступен автоматизированный механизм транспортировки образцов из буферной зоны в аналитическую камеру
Базовые аналитические методики XPS (рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия)
REELS (анализ потерь энергии отраженных электронов)
ISS (исследование ионного рассеяния)
Дополнительные методы анализа УФ-возбуждение для UPS
Двухмонохроматорная конфигурация для XPS/HAXPES
Прямое возбуждение для HAXPES
Электронная пушка для AES и SEM
IPES-анализ
Вспомогательные модули Комплектующие для специальных задач: перчаточный бокс, герметичный транспортировочный модуль, широкоапертурный ионный источник EX03, система визуализации образцов
Похожее оборудование
Спектрометр K-Alpha XPS System Спектрометр K-Alpha XPS System
Спектрометр представляет новый подход к анализу поверхности, сочетая оптимизированный рабочий процесс и удобное управление с сохранением высокого качества результатов и расширенными аналитическими возможностями.
Спектрометр Nexsa G2 XPS System Спектрометр Nexsa G2 XPS System
Автоматизированный спектрометр для высокопроизводительного анализа поверхности. Объединяет пять методов: XPS, ISS, UPS, REELS и Рамановскую спектроскопию для комплексных исследований.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54