Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС)
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
Scienta Omicron
Комбинированный РФЭ спектрометр и микроскоп с рекордным латеральным разрешением. Обеспечивает картирование химических состояний и анализ микроскопических областей.
Описание оборудования
NanoESCA предлагает отображение химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением (< 500 нм в лабораторных условиях). Прибор позволяет анализировать мельчайшие образцы, давая информацию о химическом состоянии за пределами применимости других методов с высоким латеральным разрешением, например, Оже-сканирования и времяпролетной МСВИ.
Навигация образца в режиме реального времени обеспечивается посредством фотоэлектронной микроскопии, которая работает в режиме вторичных электронов. Режим фотоэлектронной микроскопии позволяет легко обнаружить мельчайшие особенности образца и обеспечивает высокое разрешение (< 50 нм). Кроме того режим фотоэлектронной микроскопии обеспечивает количественную информацию о локальной работе выхода и локальном заряде образца.
Система NanoESCA может комплектоваться опцией μARUPS, которая позволяет анализировать k-пространство с предельным углом охвата в микронных областях, например, в небольших зернах в поликристаллической поверхности образца.
За ее революционный дизайн система NanoESCA получила награду R&D 100 в 2007 году.
Навигация образца в режиме реального времени обеспечивается посредством фотоэлектронной микроскопии, которая работает в режиме вторичных электронов. Режим фотоэлектронной микроскопии позволяет легко обнаружить мельчайшие особенности образца и обеспечивает высокое разрешение (< 50 нм). Кроме того режим фотоэлектронной микроскопии обеспечивает количественную информацию о локальной работе выхода и локальном заряде образца.
Система NanoESCA может комплектоваться опцией μARUPS, которая позволяет анализировать k-пространство с предельным углом охвата в микронных областях, например, в небольших зернах в поликристаллической поверхности образца.
За ее революционный дизайн система NanoESCA получила награду R&D 100 в 2007 году.
- Предельное разрешение РФЭС визуализации: 500 нм / 100 нм (Лаборатория/Синхротрон)
- Удобная навигация образца при помощи фотоэлектронной микроскопии
- Спектроскопия с малым пятном облучения
- Энергетический фильтр с поправкой на аберрацию
- Монохромный рентгеновский источник высокой мощности
- µARUPS с предельным углом охвата
- Создан в сотрудничестве с FOCUS GmbH
NanoESCA создана для визуализации
В последние десятилетия стандартные РФЭС инструменты стали средствами рутинного анализа образцов, и развитие инструментов происходит в основном благодаря интеграции программного обеспечения и легкости в использовании. Подходы к созданию новой аппаратуры вне пределов рутинного РФЭС анализа были редки, и РФЭС визуализация с пространственным разрешением меньше 1 мкм оставалась вне досягаемости.
Уникальный дизайн входной линзы с высоким разрешением и революционный анализатор электронов (двойной полусферический анализатор электронов) позволили NanoESCA преодолеть этот барьер. В отличие от стандартной микроскопии вторичных электронов или вторичного рентгеновского изображения, фотоэлектронная микроскопия с высоким пространственным разрешением и прекрасным разрешением по энергии позволяет проводить детальный предварительный анализ образца, намного превосходящий его простую навигацию.
В результате, NanoESCA позволяет достичь более глубокого понимания локальной структуры образца, его химической и электронной структуры, что делает NanoESCA инструментом, действительно предназначенным для предельной ESCA визуализации.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
Универсальная система для исследований поверхности методом РФЭС в условиях сверхвысокого вакуума. Подходит для широкого круга научных и прикладных задач.
HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном
Лабораторный HAXPES-спектрометр с источником жесткого монохроматизированного излучения. Позволяет получать данные о глубинной электронной структуре материалов.
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
Система для ARPES-исследований с высокой угловой и энергетической разрешающей способностью. Используется для анализа электронной структуры твердых тел.
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту
Спектрометрическая система с тремя камерами (аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки). Разрабатывается под индивидуальные требования заказчика.
Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe
Высокочувствительный и гибко настраиваемый рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с уникальной двухдетекторной системой для прецизионного анализа поверхности.
Спектрометр K-Alpha XPS System
Спектрометр представляет новый подход к анализу поверхности, сочетая оптимизированный рабочий процесс и удобное управление с сохранением высокого качества результатов и расширенными аналитическими возможностями.
Спектрометр Nexsa G2 XPS System
Автоматизированный спектрометр для высокопроизводительного анализа поверхности. Объединяет пять методов: XPS, ISS, UPS, REELS и Рамановскую спектроскопию для комплексных исследований.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
