Электронная спектроскопия поверхности

Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС)

Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС)
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) представляет собой высокоэффективный аналитический метод исследования поверхности материалов, позволяющий получать детальную информацию об их элементном и химическом составе. Благодаря исключительной чувствительности к поверхностным слоям (анализируется область глубиной около 10 нанометров), XPS обеспечивает точное количественное определение химического состава поверхности, что делает этот метод незаменимым инструментом в современном материаловедении. Уникальное сочетание поверхностной специфичности и количественного анализа химического состава открывает широкие возможности для комплексной характеристики различных материалов.

Товары раздела

Спектрометр Nexsa G2 XPS System
Автоматизированный спектрометр для высокопроизводительного анализа поверхности. Объединяет пять методов: XPS, ISS, UPS, REELS и Рамановскую спектроскопию для комплексных исследований.
Спектрометр K-Alpha XPS System
Спектрометр представляет новый подход к анализу поверхности, сочетая оптимизированный рабочий процесс и удобное управление с сохранением высокого качества результатов и расширенными аналитическими возможностями.
Спектрометр ESCALAB QXi XPS Microprobe
Высокочувствительный и гибко настраиваемый рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с уникальной двухдетекторной системой для прецизионного анализа поверхности.
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту
Спектрометрическая система с тремя камерами (аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки). Разрабатывается под индивидуальные требования заказчика.
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
Система для ARPES-исследований с высокой угловой и энергетической разрешающей способностью. Используется для анализа электронной структуры твердых тел.
HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном
Лабораторный HAXPES-спектрометр с источником жесткого монохроматизированного излучения. Позволяет получать данные о глубинной электронной структуре материалов.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
Универсальная система для исследований поверхности методом РФЭС в условиях сверхвысокого вакуума. Подходит для широкого круга научных и прикладных задач.
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
Комбинированный РФЭ спектрометр и микроскоп с рекордным латеральным разрешением. Обеспечивает картирование химических состояний и анализ микроскопических областей.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54