Микроскоп Talos F200X (S)TEM

Thermo Fisher Scientific Inc.

Высокопроизводительная система S/TEM с полевой эмиссией (X FEG), работающая на напряжениях 80 кВ и 200 кВ. Обеспечивает сочетание высококачественной TEM визуализации (≤ 0,12 нм) и STEM анализа (≤ 0,16 нм), а также быстрого и точного EDS картирования благодаря интегрированной системе Super X (4 SDD) с углом сбора ~0,9 срад. Возможности внедрения EELS (DualEELS), STEM-томографии и in situ держателей делают его универсальным инструментом для материаловедения, нанотехнологий, крио-ИС и анализа биологических или чувствительных образцов.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп Talos F200X объединяет TEM и STEM режимы на основе X FEG источника с высокой яркостью (~1.8×10⁹ A/cm²·srad при 200 кВ), обеспечивая стабильность и минимальный гистерезис в объективной системе A TWIN Lens. Система Super X EDS с четырьмя window less Si SDD детекторами встроена в колонку и обеспечивает высокую чувствительность (до легких элементов), энерговход ~136 eV и скорость сбора до ~10⁵ спектров/с. Возможности EELS (Gatan Continuum или Enfinium) с UltraFast DualEELS обеспечивают одновременный захват низко- и высокоэнергетических спектров через Velox интерфейс. Электронная томография (TEM/STEM) возможна с поддержкой EDS-топографий и автоматизированными держателями и ПО.

Функциональность

Интерфейс Velox + Align Genie: автоматизация фокусировки, астигматизма и настроек режима с минимальным участием пользователя.
Высокое разрешение: TEM до ≤ 0,10–0,12 нм, STEM HAADF ≤ 0,16 нм; STEM реально достижим ~0,135 нм на тест-устройствах.
Super X EDS: быстрый и чувствительный анализ состава, включая бор и другие легкие элементы, с высоким solid angle.
DualEELS: одновременно низко- и высокоэнергетические спектры, с разрешением до 0,8 eV (X FEG) и 0,3 eV (X CFEG).
Segmented STEM детекторы: HAADF, BF/DF, DPC и i-DPC режимы для визуализации электрических и магнитных полей.
Сложная автоматизация: Tomography 4.x пакет, автоматизированный сбор tilt series в TEM/STEM/EDS режимах; режим пакетной обработки для Maps и APW.
Высокая стабильность: piezo-stage для drift free позиционирования, защита от вибраций и температурных изменений, поддержка удаленного управления.

Преимущества

Принцип работы: X FEG источник, объектив A TWIN Lens с постоянной мощностью, минимальный гистерезис и отличный стабильный поток
Программное обеспечение: Velox UI, Align Genie, Tomography 4.x, Maps/APW, Gatan DigitalMicrograph, Inspect3D и Axon для in situ контроля
Механика и держатели: piezo-компустарг, держатели single/double tilt, tomography holders (±75–90°), cryo/газовые/нагрева держатели
Условия эксплуатации: рабочие напряжения 80–200 кВ, стабильные условия, длительный uptime, полноценная поддержка удаленной работы и автоматических переключений режимов
Комплектация: базовая — TEM/STEM, Ceta 16M CMOS камера (4k×4k), Super X EDS; опции — DualEELS, segmented STEM, DPC/i DPC, cryo, gas/liquid holders, томография
Прочее: высокочувствительный SmartCam, большая field-of-view и скорость FPS, автоматизация для мультимодальных экспериментов

Особенности

Сочетание режима TEM и STEM с разрешением до атомного уровня
Интегрированный Super X EDS (4 SDD) с высочайшей чувствительностью и скоростью
Поддержка DualEELS, DPC, i DPC, tomοграфии и in situ экспериментов
Автоматизация Velox + Align Genie для повышения продуктивности и снижения погрешностей
Высокая стабильность и защита от среды, удобная платформа с piezo-stage
Возможность полной автоматизации сбора данных (Maps, APW пакет)

Основные характеристики

Ускоряющее напряжение	80–200 кВ
Источник	Schottky X‑FEG (~1.8×10⁹ A/cm²·srad); опционально X‑CFEG
TEM разрешение	≤ 0.10–0.12 нм (информационный предел, точечное разрешение ~0.25 нм)
STEM (HAADF) разрешение	≤ 0.16 нм (реально ~0.135 нм при оптимальных настройках)
EDS система	Super‑X, 4 SDD, ~0.8–0.9 срад, energy resolution ≤ 136 eV
EELS	Gatan Continuum / Enfinium, DualEELS, разрешение ≤ 0.8 eV (X‑FEG), ≤ 0.3 eV (X‑CFEG)
Камера	Ceta 16M CMOS 4k×4k, >30 fps; SmartCam для обзорного поиска
Детекторы STEM	HAADF, BF, DF (DF2/DF4), DPC & i‑DPC
Автоматизация	Velox, Align Genie, Tomography 4.x, Maps/APW, Axon
Держатели	Single/double tilt, tomography (±75–90°), cryo-holder, gas/liquid, heating
Опции	DualEELS, segmented STEM, томοграфия, cryo/gas/liquid in situ

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Talos F200i (S)TEM

Высокопроизводительный поле-эмиссионный (X FEG) сканирующий/просвечивающий электронный микроскоп с диапазоном напряжений 20–200 кВ.

Микроскоп Talos F200S (S)TEM

Высокопроизводительный комбинированный сканирующий и просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) с полевой эмиссией (S FEG), работающий при напряжении до 200 кВ.

Микроскоп Talos L120C (S)TEM

Универсальная 120 кВ термиоионная система TEM/STEM начального и среднего уровня. Спроектирована для высококонтрастной визуализации и анализа чувствительных образцов при комнатной и крио температуре.

Микроскоп Iliad 300 (S)TEM

Высокопроизводительная, полностью интегрированная система S/TEM для продвинутого материаловедческого анализа. Подходит как для атомарной визуализации, так и для квантитативного спектроскопического анализа.

Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM

Флагманская система S/TEM, объединяющая TEM и STEM режимы с передовой аналитикой. Мощный инструмент для анализа сложных материалов на атомном уровне, включая DPC, ptychography и 4D STEM.

Микроскоп Talos 12 TEM

Просвечивающий электронный микроскоп, специально разработанный для биологических и материаловедческих исследований. Сочетает компактный размер, модульность и автоматизацию.

Микроскоп Talos F200C TEM

Мощный и универсальный термиоионный транслирующий электронный микроскоп (TEM) с возможностью STEM-режимов. Оптимизирован для исследования биологических и мягких образцов.