Описание оборудования
Микроскоп Talos F200S объединяет мощную S/TEM визуализацию с интегрированной EDS аналитикой через два in-column SDD детектора Super X, позволяя быстро и точно картировать состав образцов. Программное обеспечение Velox обеспечивает быстрый сбор и анализ мульти-режимных данных, а высокая стабильность инструмента, включая корпус для защиты от внешних вибраций и колебаний температуры, повышает надёжность работы при многопользовательском режиме. Инструмент поддерживает in situ держатели, STEM-томографию, а также возможность обновления до модели F200X G2 при необходимости.
Функциональность
Функциональность
- Velox Software для простой и быстрой обработки STEM/TEM и EDS-данных
- Super X EDS (две SDD): точный количественный анализ с низким фоновым шумом и чувствительностью до борона, что позволяет работать с лёгкими элементами
- High throughput STEM imaging: многоканальное обнаружение сигналов обеспечивает отличное качество изображения при высокой скорости
- Повышенная стабильность: специальные защитные кожухи уменьшают влияние воздушных потоков и температурных колебаний
- Модульное расширение: поддержка in situ держателей, томографии и возможность обновления до Talos F200X G2
Преимущества
- Принцип работы: источником является S FEG пушка, объективная система A Twin Lens, обеспечивает стабильные условия и высокую яркость
- Программное обеспечение: Velox, в сочетании с Align Genie (если активирован при обновлении), поддерживает автоматическую калибровку и сбор данных
- Механика и держатели: SmartCam камера (до 40 кадров/с), держатели single/double tilt, моторизованная томо-платформа Fischione до ±90°
- Условия эксплуатации: напряжение до 200 кВ, высокая стабильность, долгий uptime, надежность при длительной работе
- Комплектация: стандарт — TEM/STEM, SmartCam и One View камеры, Dual Super X EDS; опции — томо держатели, Cryo, EELS интеграция
- Прочее: конструкция уменьшенного форм-фактора снижает требования к пространству и инфраструктуре, облегчая обслуживание и обслуживание помещения
Особенности
- Совмещенные TEM и STEM режимы с высоким разрешением
- Встроенная Dual Super X EDS система для точного химического картирования
- Удобный интерфейс Velox и автоматизированные функции для повышения продуктивности
- Прочный и стабильный корпус с защитой от воздействия среды
- Возможность модернизации до Talos F200X G2
- Поддержка in situ экспериментов и томографии
- Опция для расширения до EELS и MicroED, если требуется
Основные характеристики
Напряжение | До 200 кВ |
Источник | S‑FEG (Schottky field emission gun) |
TEM разрешение | ≤ 0.12 нм |
STEM (HAADF) разрешение | ≤ 0.16 нм |
Камеры | SmartCam до 40 fps; One View 4k×4k CMOS |
EDS система | 2× Super‑X SDD, без окна, твердое угловое пространство ~0.45 sr |
EDS энергетическое разрешение | ≤ 136 eV (Mn‑Kα при 10 kcps) |
Быстрое EDS картирование | Время пиксельной установки ≈ 10 µs |
Программное обеспечение | Velox, возможно GMS, авто‑калибровка и workflows |
Поддержка in situ | Да (держатели, Cryo, томография) |
Опциональные обновления | Можно модернизировать до модели Talos F200X G2 |
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54