Просвечивающие электронные микроскопы

Микроскоп Talos F200S (S)TEM

Микроскоп Talos F200S (S)TEM
Thermo Fisher Scientific Inc.
Высокопроизводительный комбинированный сканирующий и просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) с полевой эмиссией (S FEG), работающий при напряжении до 200 кВ. Сочетает высокое разрешение TEM (≤ 0.12 нм) и STEM (≤ 0.16 нм) с точным количественным EDS анализом, обеспечивая стабильность, быстроту и высокую пропускную способность в научной и промышленной практике.

Описание оборудования

Микроскоп Talos F200S объединяет мощную S/TEM визуализацию с интегрированной EDS аналитикой через два in-column SDD детектора Super X, позволяя быстро и точно картировать состав образцов. Программное обеспечение Velox обеспечивает быстрый сбор и анализ мульти-режимных данных, а высокая стабильность инструмента, включая корпус для защиты от внешних вибраций и колебаний температуры, повышает надёжность работы при многопользовательском режиме. Инструмент поддерживает in situ держатели, STEM-томографию, а также возможность обновления до модели F200X G2 при необходимости.

Функциональность

  • Velox Software для простой и быстрой обработки STEM/TEM и EDS-данных
  • Super X EDS (две SDD): точный количественный анализ с низким фоновым шумом и чувствительностью до борона, что позволяет работать с лёгкими элементами
  • High throughput STEM imaging: многоканальное обнаружение сигналов обеспечивает отличное качество изображения при высокой скорости
  • Повышенная стабильность: специальные защитные кожухи уменьшают влияние воздушных потоков и температурных колебаний
  • Модульное расширение: поддержка in situ держателей, томографии и возможность обновления до Talos F200X G2

Преимущества

  • Принцип работы: источником является S FEG пушка, объективная система A Twin Lens, обеспечивает стабильные условия и высокую яркость
  • Программное обеспечение: Velox, в сочетании с Align Genie (если активирован при обновлении), поддерживает автоматическую калибровку и сбор данных
  • Механика и держатели: SmartCam камера (до 40 кадров/с), держатели single/double tilt, моторизованная томо-платформа Fischione до ±90°
  • Условия эксплуатации: напряжение до 200 кВ, высокая стабильность, долгий uptime, надежность при длительной работе
  • Комплектация: стандарт — TEM/STEM, SmartCam и One View камеры, Dual Super X EDS; опции — томо держатели, Cryo, EELS интеграция
  • Прочее: конструкция уменьшенного форм-фактора снижает требования к пространству и инфраструктуре, облегчая обслуживание и обслуживание помещения
Особенности
  • Совмещенные TEM и STEM режимы с высоким разрешением
  • Встроенная Dual Super X EDS система для точного химического картирования
  • Удобный интерфейс Velox и автоматизированные функции для повышения продуктивности
  • Прочный и стабильный корпус с защитой от воздействия среды
  • Возможность модернизации до Talos F200X G2
  • Поддержка in situ экспериментов и томографии
  • Опция для расширения до EELS и MicroED, если требуется

Основные характеристики

Напряжение До 200 кВ
Источник S‑FEG (Schottky field emission gun)
TEM разрешение ≤ 0.12 нм
STEM (HAADF) разрешение ≤ 0.16 нм
Камеры SmartCam до 40 fps; One View 4k×4k CMOS
EDS система 2× Super‑X SDD, без окна, твердое угловое пространство ~0.45 sr
EDS энергетическое разрешение ≤ 136 eV (Mn‑Kα при 10 kcps)
Быстрое EDS картирование Время пиксельной установки ≈ 10 µs
Программное обеспечение Velox, возможно GMS, авто‑калибровка и workflows
Поддержка in situ Да (держатели, Cryo, томография)
Опциональные обновления Можно модернизировать до модели Talos F200X G2
Похожее оборудование
Микроскоп Talos F200i (S)TEM Микроскоп Talos F200i (S)TEM
Высокопроизводительный поле-эмиссионный (X FEG) сканирующий/просвечивающий электронный микроскоп с диапазоном напряжений 20–200 кВ.
Микроскоп Talos F200X (S)TEM Микроскоп Talos F200X (S)TEM
Высокопроизводительная система S/TEM с полевой эмиссией (X FEG), работающая на напряжениях 80 кВ и 200 кВ. Обеспечивает сочетание высококачественной TEM визуализации и STEM анализа.
Микроскоп Talos L120C (S)TEM Микроскоп Talos L120C (S)TEM
Универсальная 120 кВ термиоионная система TEM/STEM начального и среднего уровня. Спроектирована для высококонтрастной визуализации и анализа чувствительных образцов при комнатной и крио температуре.
Микроскоп Iliad 300 (S)TEM Микроскоп Iliad 300 (S)TEM
Высокопроизводительная, полностью интегрированная система S/TEM для продвинутого материаловедческого анализа. Подходит как для атомарной визуализации, так и для квантитативного спектроскопического анализа.
Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM
Флагманская система S/TEM, объединяющая TEM и STEM режимы с передовой аналитикой. Мощный инструмент для анализа сложных материалов на атомном уровне, включая DPC, ptychography и 4D STEM.
Микроскоп Talos 12 TEM Микроскоп Talos 12 TEM
Просвечивающий электронный микроскоп, специально разработанный для биологических и материаловедческих исследований. Сочетает компактный размер, модульность и автоматизацию.
Микроскоп Talos F200C TEM Микроскоп Talos F200C TEM
Мощный и универсальный термиоионный транслирующий электронный микроскоп (TEM) с возможностью STEM-режимов. Оптимизирован для исследования биологических и мягких образцов.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54