Описание оборудования
Микроскоп Talos F200i сочетает TEM и STEM режимы, интегрирован с EDS (Dual X Flash) и доступными опциями: EELS, STEM-томография, in situ держатели. Оснащен компактной колонной с X Twin полюсным пространством, автоматикой Align Genie и интуитивным Velox UI, что ускоряет рабочий процесс и минимизирует время выравнивания между пользователями.
Функциональность
Функциональность
- Velox интерфейс и Align Genie: автоматическая настройка TEM/STEM режимов, калибровка, справочная помощь F1 — удобство для новичков и опытных операторов.
- Высокое разрешение: TEM ≤ 0.10 нм, STEM (HAADF) ≤ 0.16 нм.
- Dual‑X Flash EDS: боковой моторизируемый модуль EDX с энергией разрешения ~129 eV, чувствительность до лёгких элементов.
- Производительность: постоянная мощность линз, низкий гистерезис, SmartCam удалённое управление, переключение режимов без перерыва.
- Компактность: уменьшенный размер и вес упрощают установку и обслуживание, снижая инфраструктурные затраты.
Преимущества
- Принцип работы: полевая эмиссионная пушка (X‑FEG), X‑Twin полюсный наконечник
- Программное обеспечение: Velox UI, Align Genie, встроенные модули справки
- Механика: SmartCam удалённое управление, постоянная мощность линз для стабильности
- Условия эксплуатации: напряжение 20–200 кВ, оперативные переключения режимов, стабильная работа в многопользовательской среде
- Комплектация: стандарт – TEM/STEM, Ceta-контролируемая CMOS-камера, Dual‑X Flash EDS; опции — EELS, in situ и томо‑держатели
- Прочее: компактный корпус, облегчённое обслуживание, разрешения до ≤ 0.10 нм для TEM-анализа
Особенности
- Полная поддержка TEM + STEM режимов с высоким разрешением
- Возможность EDS (Dual‑X Flash) и опциональной EELS аналитики
- Интерфейс Velox и автоматизация Align Genie упрощают обучение и эксплуатацию
- Универсальность: материалы, нанотехнологии, in situ эксперименты
- Компактный форм-фактор для ограниченных пространств
- Поддержка расширений: держатели in situ, томография, cryo‑опции
Основные характеристики
Напряжение | 20–200 кВ |
Источник | X‑FEG высокая яркость |
TEM разрешение | ≤ 0.10 нм |
STEM (HAADF) разрешение | ≤ 0.16 нм |
Камеры | Ceta 4 k×4 k CMOS (до 40 fps), опционально Medipix 4D STEM |
EDS система | Dual‑X Flash (Bruker X‑flash 100 мм² ×2), моторизируемый боковой модуль |
Автоматизация | Align Genie, Velox UI, SmartCam удалённое управление |
Объективная система | X‑Twin gap, постоянная мощность, низкий гистерезис |
Поддержка in situ | Tom holder, Cryo опции, NanoEx holder |
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54