Просвечивающие электронные микроскопы

Микроскоп Talos F200i (S)TEM

Микроскоп Talos F200i (S)TEM
Микроскоп Talos F200i (S)TEM
Thermo Fisher Scientific Inc.
Высокопроизводительный поле-эмиссионный (X FEG) сканирующий/просвечивающий электронный микроскоп с диапазоном напряжений 20–200 кВ. Уникально разработан для продуктивного высокоразрешающего (≤ 0.10 нм TEM, ≤ 0.16 нм STEM) анализа структуры и состава материалов, включая в situ эксперименты и дифракцию.

Описание оборудования

Микроскоп Talos F200i сочетает TEM и STEM режимы, интегрирован с EDS (Dual X Flash) и доступными опциями: EELS, STEM-томография, in situ держатели. Оснащен компактной колонной с X Twin полюсным пространством, автоматикой Align Genie и интуитивным Velox UI, что ускоряет рабочий процесс и минимизирует время выравнивания между пользователями.

Функциональность

  • Velox интерфейс и Align Genie: автоматическая настройка TEM/STEM режимов, калибровка, справочная помощь F1 — удобство для новичков и опытных операторов.
  • Высокое разрешение: TEM ≤ 0.10 нм, STEM (HAADF) ≤ 0.16 нм.
  • Dual‑X Flash EDS: боковой моторизируемый модуль EDX с энергией разрешения ~129 eV, чувствительность до лёгких элементов.
  • Производительность: постоянная мощность линз, низкий гистерезис, SmartCam удалённое управление, переключение режимов без перерыва.
  • Компактность: уменьшенный размер и вес упрощают установку и обслуживание, снижая инфраструктурные затраты.

Преимущества

  • Принцип работы: полевая эмиссионная пушка (X‑FEG), X‑Twin полюсный наконечник
  • Программное обеспечение: Velox UI, Align Genie, встроенные модули справки
  • Механика: SmartCam удалённое управление, постоянная мощность линз для стабильности
  • Условия эксплуатации: напряжение 20–200 кВ, оперативные переключения режимов, стабильная работа в многопользовательской среде
  • Комплектация: стандарт – TEM/STEM, Ceta-контролируемая CMOS-камера, Dual‑X Flash EDS; опции — EELS, in situ и томо‑держатели
  • Прочее: компактный корпус, облегчённое обслуживание, разрешения до ≤ 0.10 нм для TEM-анализа
Особенности
  • Полная поддержка TEM + STEM режимов с высоким разрешением
  • Возможность EDS (Dual‑X Flash) и опциональной EELS аналитики
  • Интерфейс Velox и автоматизация Align Genie упрощают обучение и эксплуатацию
  • Универсальность: материалы, нанотехнологии, in situ эксперименты
  • Компактный форм-фактор для ограниченных пространств
  • Поддержка расширений: держатели in situ, томография, cryo‑опции

Основные характеристики

Напряжение 20–200 кВ
Источник X‑FEG высокая яркость
TEM разрешение ≤ 0.10 нм
STEM (HAADF) разрешение ≤ 0.16 нм
Камеры Ceta 4 k×4 k CMOS (до 40 fps), опционально Medipix 4D STEM
EDS система Dual‑X Flash (Bruker X‑flash 100 мм² ×2), моторизируемый боковой модуль
Автоматизация Align Genie, Velox UI, SmartCam удалённое управление
Объективная система X‑Twin gap, постоянная мощность, низкий гистерезис
Поддержка in situ Tom holder, Cryo опции, NanoEx holder
Похожее оборудование
Микроскоп Talos F200S (S)TEM Микроскоп Talos F200S (S)TEM
Высокопроизводительный комбинированный сканирующий и просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) с полевой эмиссией (S FEG), работающий при напряжении до 200 кВ.
Микроскоп Talos F200X (S)TEM Микроскоп Talos F200X (S)TEM
Высокопроизводительная система S/TEM с полевой эмиссией (X FEG), работающая на напряжениях 80 кВ и 200 кВ. Обеспечивает сочетание высококачественной TEM визуализации и STEM анализа.
Микроскоп Talos L120C (S)TEM Микроскоп Talos L120C (S)TEM
Универсальная 120 кВ термиоионная система TEM/STEM начального и среднего уровня. Спроектирована для высококонтрастной визуализации и анализа чувствительных образцов при комнатной и крио температуре.
Микроскоп Iliad 300 (S)TEM Микроскоп Iliad 300 (S)TEM
Высокопроизводительная, полностью интегрированная система S/TEM для продвинутого материаловедческого анализа. Подходит как для атомарной визуализации, так и для квантитативного спектроскопического анализа.
Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM
Флагманская система S/TEM, объединяющая TEM и STEM режимы с передовой аналитикой. Мощный инструмент для анализа сложных материалов на атомном уровне, включая DPC, ptychography и 4D STEM.
Микроскоп Talos 12 TEM Микроскоп Talos 12 TEM
Просвечивающий электронный микроскоп, специально разработанный для биологических и материаловедческих исследований. Сочетает компактный размер, модульность и автоматизацию.
Микроскоп Talos F200C TEM Микроскоп Talos F200C TEM
Мощный и универсальный термиоионный транслирующий электронный микроскоп (TEM) с возможностью STEM-режимов. Оптимизирован для исследования биологических и мягких образцов.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54