Просвечивающие электронные микроскопы

Микроскоп Talos F200C TEM

Микроскоп Talos F200C TEM
Thermo Fisher Scientific Inc.
Мощный и универсальный термиоионный транслирующий электронный микроскоп (TEM) с возможностью STEM-режимов. Оптимизирован для исследования биологических и мягких образцов, включая крио TEM, обеспечивая высокое разрешение и надежность при работе с чувствительными материалами в диапазоне напряжений 20–200 кВ.

Описание оборудования

Микроскоп Talos F200C спроектирован для 2D и 3D визуализации макромолекул, органелл, клеток и мягких материалов с интеграцией томографии и EELS-анализа. Используя термически стабилизированную объективную систему C TWIN lens с постоянной мощностью, инструмент обеспечивает баланс между контрастом и разрешением. Он оснащен камерой Ceta 16M CMOS с высоким FPS и поддерживает органеллярные и in situ исследования с низкой дозой излучения и Cryo-блоками.

Функциональность

  • Автонастройка основных параметров: фокус, eucentric высота, центрирование пучка, апертуры — все автоматизировано для упрощения работы.
  • Высококонтрастная визуализация STEM и TEM с несколькими детекторами для HAADF, BF/DF сигналов.
  • Интерактивный интерфейс Velox и картографический Maps: поддержка навигации по образцу, автоматический сбор и сшивка изображений, корреляция с SEM и микроскопией света.
  • Увеличенная стабильность: устойчивый корпус, Piezo-stage опция, SmartCam для удаленного управления, минимальный дрейф изображения.
  • Cryo-режим и высокая контрастность: моторизованный retractable cryo-бокс и низкодозовые методы для бережной работы с чувствительными образцами.

Преимущества

  • Принцип работы: термиоионный источник LaB₆ при 200 кВ, объективная система C‑TWIN с постоянной мощностью для стабильного качества изображения
  • Программное обеспечение: Velox, MAPS, TIA, Inspect 3D; поддержка SerialEM и автоматизации workflows для томографии и Cryo‑режима
  • Механика: piezo-компунджентная платформа with single-tilt держатели, моторизованная cryo-бокс поддержка, stage стабилизации для низкого дрейфа
  • Условия эксплуатации: диапазон напряжений 20‑200 кВ, низкий дрейф, устойчивость к вибрациям и температурным изменениям
  • Комплектация: стандартно — TEM/STEM, Ceta 16M камера, BF/ADF STEM детекторы, опции: Cryo-бокс, боковой EDS-детектор, phase plate, holders для in situ и томографии
  • Прочее: компактный корпус, удобство установки и обслуживания, высокая стабильность для рутинных и продвинутых задач
Особенности
  • Темп автоматизации и стабильность: постоянная мощность линз, Piezo-stage, удаленное управление SmartCam
  • Высококонтрастная TEM/STEM визуализация чувствительных образцов и крио-контейнеры
  • Большое поле обзора и скорость съемки на Ceta 16M 4k×4k камере (~40 fps)
  • Интеграция в VELOX/Maps/TIA — автоматическая навигация, сбор данных, корреляции
  • Поддержка 3D томографии, phase plate и EELS анализаУдобство использования в лабораториях многопользовательского типа

Основные характеристики

Ускоряющее напряжение 20–200 кВ
Источник LaB₆ термиоионный (200 кВ)
TEM разрешение (line) ≈ 1.8 Å (information limit)
TEM точечное разрешение ≈ 3.0 Å
STEM разрешение ≈ 2.0 Å
Камера Ceta 16M CMOS 4096×4096, ~40 fps
Детекторы STEM ADF, BF/DF таблица multiple channels
EDS (опционально) боковая компактная XFlash EDS детектор
Cryo-опции моторизованный retractable cryo-бокс, Cryo holders
Автоматизация Velox, MAPS, TIA, auto-alignments, SmartCam
Поддержка Да, через Inspect3D или SerialEM
Похожее оборудование
Микроскоп Talos F200i (S)TEM Микроскоп Talos F200i (S)TEM
Высокопроизводительный поле-эмиссионный (X FEG) сканирующий/просвечивающий электронный микроскоп с диапазоном напряжений 20–200 кВ.
Микроскоп Talos F200S (S)TEM Микроскоп Talos F200S (S)TEM
Высокопроизводительный комбинированный сканирующий и просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) с полевой эмиссией (S FEG), работающий при напряжении до 200 кВ.
Микроскоп Talos F200X (S)TEM Микроскоп Talos F200X (S)TEM
Высокопроизводительная система S/TEM с полевой эмиссией (X FEG), работающая на напряжениях 80 кВ и 200 кВ. Обеспечивает сочетание высококачественной TEM визуализации и STEM анализа.
Микроскоп Talos L120C (S)TEM Микроскоп Talos L120C (S)TEM
Универсальная 120 кВ термиоионная система TEM/STEM начального и среднего уровня. Спроектирована для высококонтрастной визуализации и анализа чувствительных образцов при комнатной и крио температуре.
Микроскоп Iliad 300 (S)TEM Микроскоп Iliad 300 (S)TEM
Высокопроизводительная, полностью интегрированная система S/TEM для продвинутого материаловедческого анализа. Подходит как для атомарной визуализации, так и для квантитативного спектроскопического анализа.
Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM
Флагманская система S/TEM, объединяющая TEM и STEM режимы с передовой аналитикой. Мощный инструмент для анализа сложных материалов на атомном уровне, включая DPC, ptychography и 4D STEM.
Микроскоп Talos 12 TEM Микроскоп Talos 12 TEM
Просвечивающий электронный микроскоп, специально разработанный для биологических и материаловедческих исследований. Сочетает компактный размер, модульность и автоматизацию.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54