Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM

Thermo Fisher Scientific Inc.

Флагманская система S/TEM, объединяющая TEM и STEM режимы с передовой аналитикой. Работает в диапазоне 30–300 кВ с возможностью реального переключения напряжения в одной сессии (~5 минут), интегрирует энергофильтрованную EELS систему, систему EDS Ultra X, детектор Zebra и электростатический бланкер NanoPulser для точного управления дозой. Все управление осуществляется через Velox, с поддержкой Python скриптов через Autoscript. Это делает Iliad Ultra мощным инструментом для анализа сложных материалов на атомном уровне, включая DPC, ptychography и 4D STEM.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Переключение напряжений: работает при 30–300 кВ с переключением в реальном времени (~5 мин), что позволяет оптимально подстраивать параметры под чувствительные образцы.
EELS + Energy Filter: интегрированный спектрометр с призмой и многополюсной системой, избавляющий от цветовых искажений при любых режимах работы.
Ultra‑X EDS детектор: сверхширокий solid angle до ~4.45 sr (или ~4.04 sr с держателем), что обеспечивает максимальную чувствительность EDS даже на чувствительных образцах.
NanoPulser: электростатический бланкер для управления дозой и выполнения time-resolved экспериментов.
Velox + Autoscript: единый ПО интерфейс с полной поддержкой скриптинга и AI workflow для автоматизированных исследований.

Функциональность

Live HT switch: динамический выбор напряжения для оптимизации контраста, отказоустойчивости образцов и разрешения в рамках одной сессии.
Высокая разрешающая способность: TEM и STEM изображение с суб-Å уровнем разрешения благодаря X‑FEG/Mono или X‑FEG/UltiMono источнику, включая X‑CFEG опцию для повышения яркости и снижения энергетического разброса.
Сегментированные STEM‑детекторы Panther: 16‑секционный детектор с едичевой чувствительностью, поддержка режимов HAADF, DPC и i‑DPC.
4D STEM и ptychography: поддержка EMPAD или ускоренной Ceta-камеры для полного пространственно-энергетического анализа.
Модели для ptychography и Lorentz: режимы DPC/STEM и Lorentz STEM для анализа магнитных структур без внешнего поля.

Преимущества

Принцип работы: X FEG/Mono или X FEG/UltiMono (опция X CFEG), коррекция пятого порядка, стабильная оптика и минимальный дрейф
Программное обеспечение: Velox, интерактивный интерфейс, Autoscript для скриптинга и AI workflow, SmartCam для настройки опыта
Механика и держатели: свободная конфигурация держателей, включая держатели in situ, cryo, tomography, совместимость с legacy держателями при Ultra X EDS ограничена
Условия эксплуатации: напряжения 30–300 кВ, быстрая смена режимов, высокая стабильность, минимальные временные затраты при переключениях
Комплектация: базовая – TEM/STEM, Ultra X EDS, NanoPulser, Zebra-для EELS; опции – EMPAD, Ceta, DPC/i DPC, holders для tomography и cryo

Особенности

Переключение напряжения в реальном времени 30–300 кВ без перерыва
Ультраширокий 4.45 sr Ultra X детектор EDS
Полностью интегрированный EELS энергофильтр с Zebra камерой
Точная доза с NanoPulser, подходящая для beam sensitive материалов
Поддержка DPC, ptychography, 4D STEM и Lorentz режимов
Полная совместимость с Velox и Autoscript для автоматизации
Подходит для материаловедения, полупроводников и анализа наноструктур

Основные характеристики

Ускоряющее напряжение	30–300 кВ (реальное переключение ~5 мин)
Источник	X‑FEG/Mono или UltiMono; опция X‑CFEG
TEM/STEM разрешение	до ~50 pm при 300 кВ, 96 pm при 60 кВ, 125 pm при 30 кВ
EDS система	Ultra‑X EDS с solid angle до ~4.45 sr (или до 4.04 sr с analytical double tilt держ.)
EELS/энергофильтр	Интегрированная система с Zebra‑камерой и продвинутой оптикой
NanoPulser	Электростатический бланкер для точного управления дозой
STEM детекторы Panther	16‑сегментная конфигурация, поддержка HAADF, DPC, i‑DPC
4D STEM конфигурации	EMPAD или fast Ceta камеры для 4D STEM
Автоматизация	Velox, SmartCam, Autoscript Python, AI workflows
Поддержка режимов	HRTEM, HRSTEM, Lorentz STEM, DPC, ptychography, tomography, time-resolved experiments
Держатели	Cryo, gas/liquid, tomography, legacy (с ограничениями при Ultra‑X)

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Talos F200i (S)TEM

Высокопроизводительный поле-эмиссионный (X FEG) сканирующий/просвечивающий электронный микроскоп с диапазоном напряжений 20–200 кВ.

Микроскоп Talos F200S (S)TEM

Высокопроизводительный комбинированный сканирующий и просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) с полевой эмиссией (S FEG), работающий при напряжении до 200 кВ.

Микроскоп Talos F200X (S)TEM

Высокопроизводительная система S/TEM с полевой эмиссией (X FEG), работающая на напряжениях 80 кВ и 200 кВ. Обеспечивает сочетание высококачественной TEM визуализации и STEM анализа.

Микроскоп Talos L120C (S)TEM

Универсальная 120 кВ термиоионная система TEM/STEM начального и среднего уровня. Спроектирована для высококонтрастной визуализации и анализа чувствительных образцов при комнатной и крио температуре.

Микроскоп Iliad 300 (S)TEM

Высокопроизводительная, полностью интегрированная система S/TEM для продвинутого материаловедческого анализа. Подходит как для атомарной визуализации, так и для квантитативного спектроскопического анализа.

Микроскоп Talos 12 TEM

Просвечивающий электронный микроскоп, специально разработанный для биологических и материаловедческих исследований. Сочетает компактный размер, модульность и автоматизацию.

Микроскоп Talos F200C TEM

Мощный и универсальный термиоионный транслирующий электронный микроскоп (TEM) с возможностью STEM-режимов. Оптимизирован для исследования биологических и мягких образцов.