Микроскоп Iliad 300 (S)TEM

Thermo Fisher Scientific Inc.

Высокопроизводительная, полностью интегрированная система S/TEM для продвинутого материаловедческого анализа. Работает в диапазоне напряжений 30–300 кВ и включает высокоэффективные модули EELS, OPTIC Energy Filter и EDS (Super X или Dual X), а также NanoPulser для точного контроля дозы. Подходит как для атомарной визуализации, так и для квантитативного спектроскопического анализа с программным управлением Velox и возможностью скриптинга через Autoscript.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп Iliad 300 (S)TEM сочетает способности HRTEM и HRSTEM (до 50 pm при 300 кВ, 96 pm при 60 кВ и 125 pm при 30 кВ) благодаря X FEG/Mono или X FEG/UltiMono источнику и коррекции пятого порядка аберрации. Панель Panther STEM с 16 сегментными детекторами обеспечивает чувствительность к одинарным электронам и поддерживает DPC/STEM режимы. Методы могут расширяться до 4D STEM с EMPAD или ускоренной Ceta камерой.

Функциональность

Iliad EELS Spectrometer & Energy Filter — инновационная оптическая интеграция для устранения хроматической дисторсии и стабильного качества спектров при всех настройках.
NanoPulser — электростатический бланкер для прецизионного контроля дозы и временных исследований.
Velox Software + Autoscript — единая платформа управления с интерфейсом SmartCam, поддержкой Python скриптов и AI подходов к сбору и обработке данных.
Высокое разрешение STEM/TEM — 50 pm при 300 кВ, 96 pm при 60 кВ, 125 pm при 30 кВ с X CFEG, минимальная ширина пучка без вреда для образца.
Panther STEM detection system — сегментированные твердотельные детекторы для высокочувствительной STEM визуализации и новых режимов STEM-techniques.
4D STEM конфигурации — EMPAD или ускоренная Ceta камера для всестороннего пространственно-энергетического анализа.
Lorentz & DPC/STEM режимы — визуализация магнитных полей при отсутствии внешнего поля, поддержка ptychography и других инновационных режимов.

Преимущества

Принцип работы: X FEG/Mono или X FEG/UltiMono источник, оптика с коррекцией пятого порядка и S TWIN широкозазорный полюсный наконечник для стабильности и минимального гистерезиса
Программное обеспечение: Velox, Autoscript (скриптинг Python), SmartCam, оптимизированные workflows для STEM, EELS, EDS, 4D STEM
Детекторы: Панельная система Panther (16 сегментов), EDS Super X или Dual X, энергоспектроскопия EELS с фильтрацией и Zebra камерой
Поддержка режимов: STEM/TEM, Lorentz, DPC, EELS/EDS карта, tomography, ptychography, 4D STEM, time resolved модели
Можно интегрировать: EMPAD, Ceta камера, cryo-держатели, in situ постановки, legacy holders совместимы (c некоторыми ограничениями при EDS UltraX)

Особенности

Разрешение до 50 pm для TEM/STEM на 300 кВ
Полный пакет EELS + EDX с оптимизированной интеграцией
Контроль дозы с NanoPulser и поддержка time-resolved экспериментов
Продвинутая автоматизация с Velox и Python скриптами
Поддержка DPC/i DPC, Lorentz STEM, ptychography и 4D STEM
Подходит для сложных материалов — катализаторы, магнитные материалы, наноструктуры

Основные характеристики

Напряжение	30–300 кВ
Источник	X‑FEG/Mono или X‑FEG/UltiMono; опция X‑CFEG при 300 кВ
TEM/STEM разрешение	≤ 50 pm (300 кВ), 96 pm (60 кВ), 125 pm (30 кВ)
EDS система	Super‑X или Dual‑X EDS (~0.9–4.45 срад solid angle)
EELS + Energy Filter	Интегрированный спектрометр с фильтром и Zebra камера
NanoPulser	Электростатический бланкер для точного дозирования пучка
Panther STEM датчики	16 сегментов, single‑electron sensitivity
Камеры для 4D STEM	EMPAD или Ceta (speed-enhanced)
Автоматизация	Velox, SmartCam, Autoscript (Python), AI-workflows
Поддерживаемые режимы	HRTEM, HRSTEM, DPC, Lorentz, tomography, ptychography, time-resolved
Совместимость держателей	Cryo, gas/liquid, legacy holders

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Talos F200i (S)TEM

Высокопроизводительный поле-эмиссионный (X FEG) сканирующий/просвечивающий электронный микроскоп с диапазоном напряжений 20–200 кВ.

Микроскоп Talos F200S (S)TEM

Высокопроизводительный комбинированный сканирующий и просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) с полевой эмиссией (S FEG), работающий при напряжении до 200 кВ.

Микроскоп Talos F200X (S)TEM

Высокопроизводительная система S/TEM с полевой эмиссией (X FEG), работающая на напряжениях 80 кВ и 200 кВ. Обеспечивает сочетание высококачественной TEM визуализации и STEM анализа.

Микроскоп Talos L120C (S)TEM

Универсальная 120 кВ термиоионная система TEM/STEM начального и среднего уровня. Спроектирована для высококонтрастной визуализации и анализа чувствительных образцов при комнатной и крио температуре.

Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM

Флагманская система S/TEM, объединяющая TEM и STEM режимы с передовой аналитикой. Мощный инструмент для анализа сложных материалов на атомном уровне, включая DPC, ptychography и 4D STEM.

Микроскоп Talos 12 TEM

Просвечивающий электронный микроскоп, специально разработанный для биологических и материаловедческих исследований. Сочетает компактный размер, модульность и автоматизацию.

Микроскоп Talos F200C TEM

Мощный и универсальный термиоионный транслирующий электронный микроскоп (TEM) с возможностью STEM-режимов. Оптимизирован для исследования биологических и мягких образцов.