Электронные микроскопы
Просвечивающие электронные микроскопы
Просвечивающие электронные микроскопы обеспечивают улучшенную визуализацию и анализ за счет упрощенного/автоматизированного управления, обеспечивая высокое качество данных и быстрое время сбора. Они сочетают выдающуюся визуализацию ствола с высоким разрешением и энергодисперсионную рентгеновскую спектроскопию (EDS) для элементного анализа, обеспечивая картирование состава и 3D-химическую характеристику. Системы Thermo Scientific TEMs подходят для многопользовательских и многопрофильных сред, объединяя несколько приложений в единой системе.
Товары раздела
Микроскоп Talos F200C TEM
Мощный и универсальный термиоионный транслирующий электронный микроскоп (TEM) с возможностью STEM-режимов. Оптимизирован для исследования биологических и мягких образцов.
Микроскоп Talos 12 TEM
Просвечивающий электронный микроскоп, специально разработанный для биологических и материаловедческих исследований. Сочетает компактный размер, модульность и автоматизацию.
Микроскоп Iliad Ultra (S)TEM
Флагманская система S/TEM, объединяющая TEM и STEM режимы с передовой аналитикой. Мощный инструмент для анализа сложных материалов на атомном уровне, включая DPC, ptychography и 4D STEM.
Микроскоп Iliad 300 (S)TEM
Высокопроизводительная, полностью интегрированная система S/TEM для продвинутого материаловедческого анализа. Подходит как для атомарной визуализации, так и для квантитативного спектроскопического анализа.
Микроскоп Talos L120C (S)TEM
Универсальная 120 кВ термиоионная система TEM/STEM начального и среднего уровня. Спроектирована для высококонтрастной визуализации и анализа чувствительных образцов при комнатной и крио температуре.
Микроскоп Talos F200X (S)TEM
Высокопроизводительная система S/TEM с полевой эмиссией (X FEG), работающая на напряжениях 80 кВ и 200 кВ. Обеспечивает сочетание высококачественной TEM визуализации и STEM анализа.
Микроскоп Talos F200S (S)TEM
Высокопроизводительный комбинированный сканирующий и просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) с полевой эмиссией (S FEG), работающий при напряжении до 200 кВ.
Микроскоп Talos F200i (S)TEM
Высокопроизводительный поле-эмиссионный (X FEG) сканирующий/просвечивающий электронный микроскоп с диапазоном напряжений 20–200 кВ.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
