Микроскоп Phenom XL G2

Thermo Fisher Scientific Inc.

Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа. Он сочетает простоту эксплуатации, характерную для линейки Phenom, с расширенными возможностями по размеру исследуемых образцов и интегрированной EDS-аналитикой.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп Phenom XL G2 — это самая крупная настольная SEM-система в линейке Phenom, предназначенная для быстрой визуализации, морфологического анализа и химического картирования объектов размером до 100×100 мм. Усовершенствованная оптическая система, обновленная платформа и поддержка большого количества образцов делают XL G2 идеальным инструментом для контроля качества, научных исследований, материаловедения и образования.

Phenom XL G2 оснащен улучшенной камерой G2, высококонтрастным BSE-детектором и автоматизированной системой управления. Поддерживает установку до 36 образцов одновременно благодаря мультидержателю (опция). Позволяет проводить как морфологический, так и элементный анализ (встроенный EDS, опционально с автоматическим картированием). Управляется через сенсорный экран с интуитивным интерфейсом — от загрузки до результата менее чем за 1 минуту.

Функциональность

Большая камера образцов: поддерживает образцы до 100×100 мм.
Автоматическое позиционирование и фокусировка: облегчает работу даже с множественными образцами.
Встроенный EDS-модуль (опционально): для элементного анализа в один клик.
Разрешение до 10 нм, напряжение от 5 до 20 кВ.
Интерфейс Phenom UI: автоконтраст, автофокус, интеллектуальная навигация по образцу.
Оптическая камера Live View: облегчает предварительный осмотр и навигацию.

Преимущества

Поддержка крупноформатных образцов (до 100×100 мм)
До 36 образцов одновременно — экономия времени на смену и загрузку
Высокая производительность и стабильность в многосменной эксплуатации
Встроенный BSE-детектор и EDS — полный морфолого-химический анализ
Обновленная камера G2 — лучшее качество изображения и контраст
Низкие требования к установке: настольный формат, стандартное питание, не требует охлаждения или вакуумной комнаты

Особенности

Тип эмиссии: CeB₆ или LVD (в зависимости от конфигурации).
Детекторы: BSE (в базе), SE (опция), EDS (опция, Element Identification)
Интерфейс: сенсорный экран, ПО Phenom UI.
Автоматизация: Auto Contrast & Focus, Автокартирование EDS (в Pro-версии)
Интеллектуальная навигация по образцу
Поддержка многопользовательского режима: профили, шаблоны, быстрая и безопасная работа

Основные характеристики

Параметр	Значение
Размер образца	до 100×100 мм
Макс. количество образцов	до 36 (мультидержатель, опция)
SEM-разрешение	до 10 нм
Напряжение	5–20 кВ
Увеличение	до 130 000×
Детекторы	BSE (базовый), SE (опция)
EDS	встроенный модуль, опционально Auto-ID и картирование
Интерфейс управления	Сенсорный экран, Phenom UI
Камера навигации	Оптическая, Live View
Время запуска	<1 мин
Габариты/формат	Настольный, компактный корпус
Питание	Стандартная розетка 220 В

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Phenom Pure G6

Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.

Микроскоп Phenom Pro G6

Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.

Микроскоп Phenom ProX G6

Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.

Микроскоп Phenom ParticleX Steel

Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.

Микроскоп Phenom ParticleX TC

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.

Микроскоп Phenom ParticleX AM

Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).

Микроскоп Phenom ParticleX GSR

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.

Микроскоп Phenom ParticleX

Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.

Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM

Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.