Микроскоп Phenom Pure G6

Thermo Fisher Scientific Inc.

Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп построен на платформе Phenom с удобным интерфейсом и минимальной подготовкой к работе. Обеспечивает разрешение до 30 нм и увеличение до 25 000×. Имеет простое управление — идеально подходит для пользователей без специальной подготовки. Компактный настольный корпус не требует сложной инфраструктуры. Поддерживает различные типы образцов — от биологических до промышленных.

Функциональность

Быстрое получение SEM-изображений высокого качества.
Автоматическая фокусировка и регулировка контраста.
Сенсорный экран с интуитивно понятным управлением.
Быстрый запуск — менее 1 минуты от включения до готовности.
Возможность сохранения изображений и создания простых отчетов.

Преимущества

Простота использования — подходит для новичков
Компактность — настольный форм-фактор
Быстрый и надежный SEM-анализ с минимальной подготовкой
Универсальность применения в образовании и рутинных лабораторных задачах

Особенности

Источник электронов: LaB₆ или Tungsten (зависит от конфигурации)
Детекторы: SE (вторичные электроны)
Программное обеспечение: Phenom UI с базовым набором функций
Интерфейс: сенсорный экран

Основные характеристики

Тип анализа	SEM
Разрешение SEM	до 30 нм
Увеличение	до 25 000×
Напряжение	5–15 кВ
Источник электронов	LaB₆ / Tungsten
Детекторы	SE
Размер образца	до 25 мм в диаметре
Время от включения до анализа	менее 1 минуты
Формат изображений	JPEG, TIFF
Питание и габариты	Настольный, 220 В

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Phenom Pro G6

Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.

Микроскоп Phenom ProX G6

Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.

Микроскоп Phenom ParticleX Steel

Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.

Микроскоп Phenom ParticleX TC

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.

Микроскоп Phenom ParticleX AM

Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).

Микроскоп Phenom ParticleX GSR

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.

Микроскоп Phenom ParticleX

Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.

Микроскоп Phenom XL G2

Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.

Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM

Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.