Микроскоп Phenom ProX G6

Thermo Fisher Scientific Inc.

Настольный сканирующий электронный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов. Система широко используется в промышленном контроле качества, научных исследованиях и R&D.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп основан на платформе Phenom G6 с обновленным ПО и улучшенной оптикой. Позволяет исследовать образцы с разрешением до 10 нм, с увеличением до 130 000×. Интегрированный EDS-модуль обеспечивает быстрый и точный химический анализ элементов. Поддерживает различные типы образцов: металлы, полимеры, порошки, электроника. Совмещает SEM-визуализацию и энергодисперсионный анализ в компактном настольном корпусе.

Функциональность

Высококачественная SEM-визуализация с разрешением до 10 нм.
Встроенный EDS-анализ с автоматической идентификацией элементов.
Быстрый переход от загрузки образца до получения результатов (менее 1 минуты).
Интуитивный пользовательский интерфейс с сенсорным управлением.
Возможность создания отчетов с изображениями, спектрами и таблицами.

Преимущества

Компактность и удобство — настольный формат без необходимости сложной инфраструктуры
Высокая скорость работы — быстрый анализ и подготовка отчетов
Универсальность — подходит для широкого спектра задач и типов образцов
Интегрированный SEM + EDS для комплексного морфологического и химического анализа

Особенности

Источник электронов: CeB₆
Детекторы: BSE-детектор, встроенный EDS-анализатор
Программное обеспечение: Phenom UI с функциями автоматической настройки и анализа
Отчеты: экспорт в PDF и Excel, настраиваемые шаблоны
Интерфейс: сенсорный экран, простое управление

Основные характеристики

Тип анализа	SEM + EDS
Разрешение SEM	до 10 нм
Увеличение	до 130 000×
Напряжение	5–20 кВ
Источник электронов	CeB₆
Детекторы	BSE, встроенный EDS
Размер образца	до 32 мм в диаметре
Время от включения до анализа	менее 1 минуты
Формат отчетов	PDF, Excel
Питание и габариты	Настольный, 220 В

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Phenom Pure G6

Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.

Микроскоп Phenom Pro G6

Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.

Микроскоп Phenom ParticleX Steel

Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.

Микроскоп Phenom ParticleX TC

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.

Микроскоп Phenom ParticleX AM

Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).

Микроскоп Phenom ParticleX GSR

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.

Микроскоп Phenom ParticleX

Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.

Микроскоп Phenom XL G2

Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.

Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM

Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.