Настольные электронные микроскопы

Микроскоп Phenom Pro G6

Микроскоп Phenom Pro G6
Thermo Fisher Scientific Inc.
Настольный сканирующий электронный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала. Модель подходит для исследований структуры поверхности и контроля качества в различных областях.

Описание оборудования

Микроскоп построен на платформе Phenom G6 с современной оптикой и обновленным программным обеспечением. Обеспечивает разрешение до 10 нм и увеличение до 130 000×. Поддерживает широкий спектр образцов — металл, полимеры, электронику и др. Компактный настольный дизайн позволяет быстро интегрировать устройство в лабораторию. Базовый SEM с возможностью подключения дополнительных опций, включая EDS (приобретается отдельно).

Функциональность

  • Высококачественное SEM-изображение с хорошим контрастом и разрешением до 10 нм.
  • Быстрое получение изображений благодаря усовершенствованной оптике и ПО.
  • Интуитивный пользовательский интерфейс с сенсорным управлением.
  • Возможность расширения функционала (подключение EDS, другие опции).
  • Создание отчетов с изображениями и базовыми параметрами.

Преимущества

  • Компактный настольный SEM для разнообразных задач по визуализации
  • Быстрая подготовка к работе — время от включения до анализа менее 1 минуты
  • Простой в эксплуатации интерфейс и автоматизация ключевых функций
  • Гибкость — возможность подключения дополнительных модулей и опций
Особенности
  • Источник электронов: CeB₆
  • Детектор: BSE, SE (опция)
  • Программное обеспечение: Phenom UI с удобным управлением и автоматическими настройками
  • Отчеты: базовые, экспорт в PDF и Excel
  • Интерфейс: сенсорный экран

Основные характеристики

Тип анализа SEM
Разрешение SEM до 10 нм
Увеличение до 130 000×
Напряжение 5–20 кВ
Источник электронов CeB₆
Детекторы BSE, SE (опция)
Размер образца до 32 мм в диаметре
Время от включения до анализа менее 1 минуты
Формат отчетов PDF, Excel
Питание и габариты Настольный, 220 В
Похожее оборудование
Микроскоп Phenom Pure G6 Микроскоп Phenom Pure G6
Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.
Микроскоп Phenom ProX G6 Микроскоп Phenom ProX G6
Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.
Микроскоп Phenom ParticleX Steel Микроскоп Phenom ParticleX Steel
Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.
Микроскоп Phenom ParticleX TC Микроскоп Phenom ParticleX TC
Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.
Микроскоп Phenom ParticleX AM Микроскоп Phenom ParticleX AM
Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).
Микроскоп Phenom ParticleX GSR Микроскоп Phenom ParticleX GSR
Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.
Микроскоп Phenom ParticleX Микроскоп Phenom ParticleX
Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.
Микроскоп Phenom XL G2 Микроскоп Phenom XL G2
Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.
Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM
Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54