Настольные электронные микроскопы
Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM
Thermo Fisher Scientific Inc.
Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ. Новое поколение G2 предлагает еще больше возможностей для быстрой, точной и надежной наноструктурной визуализации.
Описание оборудования
Микроскоп Pharos G2 обеспечивает SEM-разрешение до 2.0 нм при 20 кВ и позволяет проводить как высококонтрастную визуализацию, так и встроенный элементный анализ (EDS). Благодаря технологии Schottky FEG, Pharos G2 сочетает стабильный электронный пучок с высокой яркостью, что обеспечивает превосходную детализацию при низких и высоких напряжениях — при этом сохраняя удобство настольной системы.
Платформа Phenom G2 построена на улучшенной оптической и электронной архитектуре. Высокая стабильность, быстрая загрузка образцов и высокая чувствительность делают Pharos G2 незаменимым инструментом в материалах, нанотехнологиях, биомедицине и R&D. Интерфейс управления — сенсорный, ориентирован на простоту: от запуска до получения изображения — меньше минуты.
Функциональность
Платформа Phenom G2 построена на улучшенной оптической и электронной архитектуре. Высокая стабильность, быстрая загрузка образцов и высокая чувствительность делают Pharos G2 незаменимым инструментом в материалах, нанотехнологиях, биомедицине и R&D. Интерфейс управления — сенсорный, ориентирован на простоту: от запуска до получения изображения — меньше минуты.
Функциональность
- FEG-источник (Schottky): высокая яркость, узкий пучок, стабильная работа при низких токах.
- Разрешение до 2.0 нм при 20 кВ (при максимальной производительности).
- Широкий диапазон напряжений: от 1 до 20 кВ — подходит для анализа как проводящих, так и непроводящих образцов.
- Встроенный EDS (опция): быстрая идентификация химического состава.
- BSE- и SE-детекторы: высокая контрастность, отображение морфологии и материала.
- Интуитивный интерфейс Phenom UI: поддержка автоконтраста, автофокуса и масштабирования.
- Быстрая загрузка образцов: менее 30 секунд.
Преимущества
- Первый в мире FEG-SEM в настольном формате
- Настоящее наноскопическое разрешение: визуализация до 2 нм
- Без необходимости в специальной инфраструктуре — компактный и стабильный
- Простой сенсорный интерфейс: идеально подходит как для исследователей, так и для производственных лабораторий
- Интегрированный EDS-анализ: для комплексного структурного и химического анализа
- Минимальные требования к обучению и обслуживанию
Особенности
- Источник эмиссии: Schottky FEG (Field Emission Gun)
- Детекторы: BSE — контраст по материалу, SE (опция) — контраст по топографии,
- Интерфейс: сенсорный экран, Phenom UI
- Программное обеспечение: Auto Contrast & Focus, Smart Image Navigation
- Опциональный модуль EDS
- Скорость работы: от загрузки образца до изображения — менее 1 минуты
Основные характеристики
| Параметр | Значение |
| Источник эмиссии | Schottky FEG |
| Разрешение (SEM) | до 2.0 нм при 20 кВ |
| Увеличение | до 2 000 000× |
| Напряжение | 1–20 кВ |
| EDS (опция) | Встроенный модуль |
| Детекторы | BSE (в базе), SE (опция) |
| Интерфейс | Сенсорный, с возможностью удаленного доступа |
| Загрузка образца | < 30 сек |
| Габариты | Настольный формат |
| Питание | Стандартная розетка (220 В) |
| Прочее | Отсутствие необходимости в внешнем охлаждении или виброизоляции |
Микроскоп Phenom Pure G6
Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.
Микроскоп Phenom Pro G6
Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.
Микроскоп Phenom ProX G6
Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.
Микроскоп Phenom ParticleX Steel
Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.
Микроскоп Phenom ParticleX TC
Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.
Микроскоп Phenom ParticleX AM
Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).
Микроскоп Phenom ParticleX GSR
Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.
Микроскоп Phenom ParticleX
Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.
Микроскоп Phenom XL G2
Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
