Микроскоп Phenom ParticleX TC

Thermo Fisher Scientific Inc.

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях. Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений, морфометрический анализ и химическую идентификацию с помощью встроенного EDS-модуля. Идеальна для исследований материалов, подвергающихся термической обработке.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп построен на базе платформы Phenom G6 с усовершенствованной камерой и специализированным программным обеспечением для анализа в термоконтролируемых условиях. Позволяет исследовать частицы от 0.5 мкм по морфологии, размеру и химическому составу при высоких температурах. Совместим с образцами, подвергающимися термическим воздействиям, включая порошки, сплавы и покрытия. Интегрирует SEM, BSE, EDS и специализированный софт для эффективного анализа частиц в условиях термоконтроля. Использует автоматический анализ с применением сценариев, адаптированных под задачи термической обработки материалов.

Функциональность

Автоматический SEM-анализ морфологии и химического состава частиц при различных температурах.
Встроенный EDS-модуль для точной идентификации элементов.
Программные модули для анализа и контроля термических процессов и качества материалов.
Удобный интерфейс Phenom ParticleX UI с возможностью быстрой настройки и обучения операторов.
Автоматическое формирование отчетов с графиками, статистикой и результатами EDS.

Преимущества

Комплексное решение для анализа частиц в условиях термоконтроля
Быстрая и надежная автоматизация с минимальным участием оператора
Поддержка различных типов материалов, подвергающихся термической обработке
Компактный настольный формат для удобной интеграции в лаборатории

Особенности

Источник эмиссии: CeB₆
Детекторы: BSE, встроенный EDS-анализатор
Программное обеспечение: Phenom ParticleX UI с модулями TC-анализа
Отчеты: стандартизированные, экспорт в PDF и Excel
Интерфейс: сенсорный экран, удобное управление

Основные характеристики

Тип анализа	Морфология частиц + EDS (термический контроль)
Диапазон частиц	от ~0.5 мкм
SEM-разрешение	до 10 нм
EDS-анализ	встроенный, автоматический
Напряжение	5–20 кВ
Количество частиц в анализе	до 100 000+ (в зависимости от задачи)
Формат отчета	PDF, Excel
Питание и габариты	Настольный формат, 220 В

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Phenom Pure G6

Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.

Микроскоп Phenom Pro G6

Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.

Микроскоп Phenom ProX G6

Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.

Микроскоп Phenom ParticleX Steel

Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.

Микроскоп Phenom ParticleX AM

Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).

Микроскоп Phenom ParticleX GSR

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.

Микроскоп Phenom ParticleX

Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.

Микроскоп Phenom XL G2

Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.

Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM

Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.