Микроскоп Phenom ParticleX Steel

Thermo Fisher Scientific Inc.

Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Обеспечивает высококачественные SEM-изображения, морфологический и химический анализ с помощью встроенного EDS-модуля. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп основан на базе платформы Phenom G6 с улучшенной оптикой и специализированным программным обеспечением для анализа включений в сталях. Позволяет исследовать неметаллические включения и частицы от 0.5 мкм по форме, размеру и химическому составу. Совместима с образцами металлических слитков, проката и порошков. Интегрирует SEM, BSE, EDS и специализированный софт для быстрого и точного анализа частиц и включений. Использует автоматический анализ с использованием сценариев, ориентированных на классификацию и оценку включений в металлургии.

Функциональность

Автоматический SEM-анализ морфологии и химического состава неметаллических включений.
Встроенный EDS-модуль для идентификации химического состава включений и частиц.
Программные модули для классификации и оценки качества стали по стандартам отрасли.
Удобный интерфейс Phenom ParticleX UI для быстрой работы и обучения операторов.
Автоматическое формирование отчетов с подробной статистикой и результатами EDS.

Преимущества

Комплексное решение: SEM-визуализация, EDS-анализ и классификация включений в одной системе
Быстрая и надежная автоматизация анализа с минимальным участием пользователя
Поддержка различных типов металлических образцов
Компактный настольный формат для интеграции в лаборатории металлургического контроля

Особенности

Источник эмиссии: CeB₆
Детекторы: BSE, встроенный EDS-анализатор
Программное обеспечение: Phenom ParticleX UI с модулями анализа стали
Отчеты: стандартизированные, экспорт в PDF и Excel
Интерфейс: сенсорный экран, удобное управление

Основные характеристики

Тип анализа	Морфология частиц + EDS (анализ стали)
Диапазон частиц	от ~0.5 мкм
SEM-разрешение	до 10 нм
EDS-анализ	встроенный, автоматический
Напряжение	5–20 кВ
Количество частиц в анализе	до 100 000+ (в зависимости от задачи)
Формат отчета	PDF, Excel
Питание и габариты	Настольный формат, 220 В

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Phenom Pure G6

Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.

Микроскоп Phenom Pro G6

Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.

Микроскоп Phenom ProX G6

Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.

Микроскоп Phenom ParticleX TC

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.

Микроскоп Phenom ParticleX AM

Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).

Микроскоп Phenom ParticleX GSR

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.

Микроскоп Phenom ParticleX

Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.

Микроскоп Phenom XL G2

Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.

Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM

Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.