Микроскоп Phenom ParticleX GSR

Thermo Fisher Scientific Inc.

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений, количественный анализ морфологии и размеров частиц, а также химический состав благодаря встроенному EDS-модулю. Система востребована в судебной экспертизе и криминалистике.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп основан на платформе Phenom G6 с улучшенной камерой и специализированным ПО для GSR-анализа. Позволяет автоматически идентифицировать и классифицировать частицы следов выстрелов по форме, размеру и химии. Совместим с образцами с одежды, рук и других поверхностей, используемых в судебных экспертизах.
Имеет интеллектуальный анализ с применением сценариев, ориентированных на криминалистику и судебную практику. Интегрирует SEM, BSE, EDS и специализированный софт для точного и быстрого анализа.

Функциональность

Автоматический SEM-анализ GSR-частиц по морфологии, размеру, площади и химическому составу.
Встроенный EDS-модуль для точной идентификации элементов, характерных для следов выстрелов.
Специализированные программные модули для криминалистических задач.
Простой и удобный интерфейс Phenom ParticleX UI с фокусом на быстрое обучение и работу операторов.
Автоматическое формирование подробных отчетов с графиками, статистикой и EDS-данными.

Преимущества

Комплексное решение: SEM-визуализация, EDS-анализ и морфометрия частиц GSR в одной системе
Быстрый и надежный анализ с минимальным вмешательством оператора
Полная автоматизация процесса — от загрузки образца до готового отчета
Компактный настольный форм-фактор для удобной интеграции в лаборатории судебной экспертизы

Особенности

Источник эмиссии: CeB₆
Детекторы: BSE, встроенный EDS-анализатор
Программное обеспечение: Phenom ParticleX UI с модулями GSR-анализа
Отчеты: стандартизированные, с возможностью экспорта в PDF и Excel
Интерфейс: сенсорный экран, простое управление

Основные характеристики

Тип анализа	Морфология частиц + EDS (GSR)
Диапазон частиц	от ~0.5 мкм
SEM-разрешение	до 10 нм
EDS-анализ	встроенный, автоматический
Напряжение	5–20 кВ
Количество частиц в анализе	до 100 000+ (в зависимости от задачи)
Формат отчета	PDF, Excel
Питание и габариты	Настольный формат, 220 В

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Phenom Pure G6

Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.

Микроскоп Phenom Pro G6

Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.

Микроскоп Phenom ProX G6

Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.

Микроскоп Phenom ParticleX Steel

Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.

Микроскоп Phenom ParticleX TC

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.

Микроскоп Phenom ParticleX AM

Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).

Микроскоп Phenom ParticleX

Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.

Микроскоп Phenom XL G2

Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.

Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM

Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.