Микроскоп Phenom ParticleX AM

Thermo Fisher Scientific Inc.

Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений, количественный анализ размеров, формы и химического состава металлических порошков с помощью встроенного EDS-модуля. Система идеально подходит для контроля качества порошков и оптимизации производственных процессов в 3D-печати.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп основан на платформе Phenom G6 с улучшенной оптикой и специализированным программным обеспечением для анализа порошков AM. Позволяет исследовать металлические порошки размером от 0.5 мкм по форме, размеру и химическому составу. Использует автоматический анализ с использованием сценариев, адаптированных под задачи аддитивного производства. Совместим с различными типами порошков и образцов, используемых в индустрии AM. Объединяет SEM, BSE, EDS и интеллектуальное ПО анализа частиц в одной компактной системе.

Функциональность

Автоматический SEM-анализ металлических порошков по морфологии, размеру, площади и округлости.
Встроенный EDS-модуль для химической идентификации элементов в порошках.
Специализированные программные модули анализа для контроля качества и оптимизации порошков AM.
Удобный интерфейс Phenom ParticleX UI с фокусом на быструю и простую работу оператора.
Автоматическое формирование отчетов с графиками, статистикой и результатами EDS-анализа.

Преимущества

Комплексное решение: SEM-визуализация, EDS-анализ и морфометрия порошков в одной системе
Быстрая и надежная автоматизация анализа с минимальным участием пользователя
Поддержка широкого спектра порошковых материалов для AM
Компактный настольный формат для удобной интеграции в лаборатории контроля качества

Особенности

Источник эмиссии: CeB₆
Детекторы: BSE, встроенный EDS-анализатор
Программное обеспечение: Phenom ParticleX UI с модулями AM-анализа
Отчеты: стандартизированные, экспорт в PDF и Excel
Интерфейс: сенсорный экран, удобное управление

Основные характеристики

Тип анализа	Морфология частиц + EDS (AM)
Диапазон частиц	от ~0.5 мкм
SEM-разрешение	до 10 нм
EDS-анализ	встроенный, автоматический
Напряжение	5–20 кВ
Количество частиц в анализе	до 100 000+ (в зависимости от задачи)
Формат отчета	PDF, Excel
Питание и габариты	Настольный формат, 220 В

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Phenom Pure G6

Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.

Микроскоп Phenom Pro G6

Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.

Микроскоп Phenom ProX G6

Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.

Микроскоп Phenom ParticleX Steel

Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.

Микроскоп Phenom ParticleX TC

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.

Микроскоп Phenom ParticleX GSR

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.

Микроскоп Phenom ParticleX

Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.

Микроскоп Phenom XL G2

Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.

Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM

Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.