Микроскоп Phenom ParticleX

Thermo Fisher Scientific Inc.

Настольный микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу. Объединяя SEM-визуализацию с встроенным EDS-анализом, ParticleX предоставляет пользователям быстрый и воспроизводимый результат в рамках одной системы.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Микроскоп Phenom ParticleX от Thermo Scientific — это автоматизированное решение для анализа частиц с возможностью получения высококачественных SEM-изображений, количественного анализа размеров и морфологии частиц, а также химического состава благодаря встроенному EDS-модулю.
Система особенно востребована в автомобильной промышленности, металлургии, производстве медицинских изделий, а также в R&D и контроле качества.

В основе прибора — платформа Phenom G6 с улучшенной камерой и обновленным ПО. Микроскоп позволяет исследовать частицы от 0.5 мкм по форме, размеру и химии. Обеспечивает автоматический анализ по заданным сценариям: Cleanliness Analysis, Filter Analysis, Steel Inclusion Analysis, Metal Powder Analysis. Совместим с фильтрами, образцами порошков, металлических поверхностей и срезов. Объединяет SEM, BSE, EDS и интеллектуальное ПО анализа частиц в одной компактной системе.

Функциональность

Автоматический SEM-анализ частиц: по морфологии, размеру, площади, округлости и ориентации.
EDS-идентификация: химический состав каждой частицы или выбранных групп.
Программные модули анализа: Cleanliness (ISO 16232, VDA 19) — стандарт чистоты в автоиндустрии, Steel Inclusion — классификация неметаллических включений в стали, Metal Powders — контроль качества порошков для аддитивного производства, Filter Membranes — автоматическое картирование частиц на фильтрах.
Интерфейс: Phenom ParticleX UI — ориентирован на быструю работу операторов.
Отчетность: автоматическое формирование отчетов с графиками, статистикой и EDS-результатами.

Преимущества

Все в одном: SEM-визуализация, EDS-анализ и морфометрия в одной системе
Быстро и надежно: от образца до готового отчета — за считаные минуты
Полная автоматизация: пользователь задает сценарий — система выполняет все остальное
Широкая совместимость с типами образцов: фильтры, порошки, слитки, абразив
Компактный настольный формат: легко интегрируется в лабораторию, не требует специальной инфраструктуры

Особенности

Источник эмиссии: CeB₆
Детекторы: BSE — контраст по составу, EDS — встроенный анализатор
Программное обеспечение: Phenom ParticleX UI
Модули анализа частиц (по задачам)
Автоматическое картирование и измерения
Отчеты: ISO-совместимые, настраиваемые, с экспортом в PDF/Excel
Интерфейс: сенсорный экран, управление в 1–2 касания

Основные характеристики

Параметр	Значение
Тип анализа	Морфология частиц + EDS
Диапазон частиц	от ~0.5 мкм
SEM-разрешение	до 10 нм
EDS-анализ	встроенный, автоматический
Напряжение	5–20 кВ
Количество частиц в анализе	до 100 000+ (в зависимости от задачи)
Поддерживаемые стандарты	ISO 16232, VDA 19, ASTM E45 и др.
Формат отчета	PDF, Excel, с изображениями и таблицами
Питание и габариты	Настольный формат, 220 В

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Микроскоп Phenom Pure G6

Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.

Микроскоп Phenom Pro G6

Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.

Микроскоп Phenom ProX G6

Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.

Микроскоп Phenom ParticleX Steel

Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.

Микроскоп Phenom ParticleX TC

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.

Микроскоп Phenom ParticleX AM

Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).

Микроскоп Phenom ParticleX GSR

Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.

Микроскоп Phenom XL G2

Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.

Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM

Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.