Электронные микроскопы

Настольные электронные микроскопы

Настольные электронные микроскопы
Настольные микроскопы отличаются компактностью. Обладают уменьшенным размером корпуса, что обеспечивает приборам высокую мобильность. В отличие от напольных моделей настольные микроскопы можно использовать в полевых условиях и в мобильных лабораториях.

Товары раздела

Микроскоп Phenom Pure G6
Микроскоп базового уровня, предназначенный для быстрой и простой визуализации образцов с высоким качеством SEM-изображений. Идеален для рутинных задач и образовательных целей.
Микроскоп Phenom Pro G6
Настольный микроскоп, предназначенный для высококачественной SEM-визуализации образцов с возможностью расширения функционала.
Микроскоп Phenom ProX G6
Настольный микроскоп с интегрированным энергодисперсионным анализом (EDS), предназначенный для получения высококачественных SEM-изображений и химического анализа образцов.
Микроскоп Phenom ParticleX Steel
Микроскоп для анализа неметаллических включений и частиц в сталях и других металлах. Широко применяется для контроля качества стали и металлургии.
Микроскоп Phenom ParticleX TC
Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на термоуправляемые процессы и контроль качества в высокотемпературных условиях.
Микроскоп Phenom ParticleX AM
Специализированное автоматизированное решение для анализа частиц в аддитивном производстве (Additive Manufacturing, AM).
Микроскоп Phenom ParticleX GSR
Автоматизированная система для анализа частиц с фокусом на исследование следов выстрелов (Gunshot Residue, GSR). Обеспечивает получение высококачественных SEM-изображений.
Микроскоп Phenom ParticleX
Микроскоп с интегрированной системой анализа частиц, специально разработанный для контроля загрязнений, чистоты материалов, анализа износа, а также характеризации микрочастиц по форме, размеру и химическому составу.
Микроскоп Phenom XL G2
Высокоэффективный микроскоп, разработанный для работы с крупноформатными образцами без потери качества изображения или скорости анализа.
Микроскоп Phenom Pharos G2 FEG-SEM
Компактный настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FEG), сочетающий высокое разрешение, простоту использования и интегрированный элементный анализ.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54