Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

УФ источник HIS 14 HD

УФ источник HIS 14 HD
Scienta Omicron
Высоковакуумный УФ источник высокой плотности.

Описание оборудования

Особенности:
  • Поток фотонов: > 1016 фотонов / с · стер
  • Диаметр пятна: < 300 мкм (FWHM; 5:1 уменьшающая оптика)
  • Фотонная ширина линии: < 2 мэВ (HeI излучение)
  • Фотонная плотность потока: более чем в 50 раз превосходит несфокусированный источник
  • Регулировка потока фотонов: стабилизация тока разряда
  • Юстировка источника: визир в CF-63 порте
  • Откачка: две ступени дифференциальной откачки (третья ступень — опция)
  • Рабочее расстояние: прибл. 70 мм (расстояние до места измерения)
  • Глубина ввода источника: согласно требованиям заказчика

Дизайн продукта

Предназначен для ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии твердых тел с использованием газоразрядных линий HeI и HeII, а также других благородных газов и водорода. Источник HIS 14 HD представляет собой улучшенный вариант хорошо зарекомендовавшего себя FOCUS HIS 13. Малое пятно облучения 300 мкм делает источник HIS 14 HD идеальным выбором для фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) или фотоэлектронной микроскопии (PEEM), где в небольшой области образца требуется создать высокую плотность потока излучения.

Ключевые особенности

Прочная конструкция с водяным охлаждением и соединением прямой видимости между газоразрядной областью и мишенью для легкого выравнивания.

Порт с визором облегчает позиционирование светового пятна на образце в диапазоне +/- 3°. Для специализированных ARPES экспериментов есть дополнительная третья ступень дифференциальной откачки для работы в диапазоне 10-10 мбар. Фокусировка светового пятна вплоть до 300 мкм осуществляется с использованием современной оптической технологии, применяемой на синхротроне. Фототок в световом пятне 300 мкм составляет более 30 нА (алюминиевая фольга с приложенным напряжением смещения).

Источник HIS 14 HD имеет установочный фланец CF 63 ID (опционально — фланец CF 100 ID) и поставляется вместе с фланцем-переходником, позволяющим установку источника в вакуумную камеру заказчика (чертеж камеры предоставляется заказчиком).

Малошумящий цифровой источник питания обеспечивает газоразрядный ток вплоть до 300 мА для работы HeI и HeII линий. Минимальная ширина HeI линии возбуждения фотонов составляет менее 2 мэВ. Блок питания поддерживает автоматический розжиг плазмы и комплектуется датчиком давления Пирани.

Похожее оборудование
Источник ультрафиолетового излучения UV-X Источник ультрафиолетового излучения UV-X
Разработан специально для применения в лабораторных фотоэлектронных спектрометрах.
Источник электронов SL 1000 Источник электронов SL 1000
Источник электронов с монтажом на фланец NW35 CF, оптимизированный для параллельного пучка электронов при низких кинетических энергиях.
Источник электронов высокого разрешения SEM 20 Источник электронов высокого разрешения SEM 20
Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 20 нм при 25 кВ напряжении / 0.5 нА токе пучка электронов, на рабочем расстоянии 25 мм.
Электронная пушка SEM 250 / SEM 500 Электронная пушка SEM 250 / SEM 500
SEM 250: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 250 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов.
Источник электронов с малым пятном EKF 1000 Источник электронов с малым пятном EKF 1000
Источник электронов EKF 1000 с малым пятном облучения представляет собой компактное и экономически эффективное решение для решения широкого круга задач.
Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S
Кластерная пушка GCIB 10S предназначена для максимально производительного определения профиля распределения веществ по глубине в комбинации с РФЭС и другими системами анализа поверхности.
Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10 Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) идеально подходит для исследования изоляционных материалов, таких как полимеры, керамика, адгезивы и т.д.
Универсальная электронная пушка EKF 300 Универсальная электронная пушка EKF 300
Источник EKF 300 с источником питания NGE 52 является универсальным источником электронов в диапазоне энергий от 0.1 кэВ до 5 кэВ.
Ионная пушка ISE 5 Ионная пушка ISE 5
ISE 5 представляет собой компактный и универсальный источник ионного распыления, который обладает высокими токами мишени свыше 80 мкА в широком диапазоне энергий от 300 эВ до 5 кэВ.
Ионная пушка FDG 150 Ионная пушка FDG 150
Данная ионная пушка от компании Scienta Omicron имеет точную фокусировку и четкое цифровое управление, что с легкостью обеспечивает регулируемый размер пучка с высочайшей плотностью тока, а также растровый режим для однородного травления образца.
Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200 Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200
Монохроматический рентгеновский источник XM 1000 обеспечивает оптимальный поток фотонов и отличное разрешение по энергии.
Источники рентгена DAR 400 и DAR 450 Источники рентгена DAR 400 и DAR 450
DAR 400 — высокоинтенсивный рентгеновский источник с двойным анодом. Уникальная конструкция источника позволяет минимизировать перекрёстные помехи между двумя анодами.
УФ источник HIS 13 УФ источник HIS 13
HIS 13 — высоковакуумный источник фотонов ультрафиолетового диапазона, обладает очень высокой интенсивностью благодаря интеграции высоковольтного анода в самоцентрирующийся газоразрядный капилляр.
Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES
Scienta VUV5000 является узкополосным источником высокой интенсивности крайнего УФ диапазона для проведения эффективных измерений ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-12-67