Главная Каталог Наука и нанотехнологии Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron УФ источник HIS 14 HD

Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

УФ источник HIS 14 HD

Scienta Omicron

Источник для фотоэлектронной спектроскопии твердых тел, использующий газоразрядные линии He I и He II. Отличается стабильностью и высокой яркостью излучения.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Особенности:

Поток фотонов: > 10¹⁶ фотонов / с · стер
Диаметр пятна: < 300 мкм (FWHM; 5:1 уменьшающая оптика)
Фотонная ширина линии: < 2 мэВ (HeI излучение)
Фотонная плотность потока: более чем в 50 раз превосходит несфокусированный источник
Регулировка потока фотонов: стабилизация тока разряда
Юстировка источника: визир в CF-63 порте
Откачка: две ступени дифференциальной откачки (третья ступень — опция)
Рабочее расстояние: прибл. 70 мм (расстояние до места измерения)
Глубина ввода источника: согласно требованиям заказчика

Дизайн продукта

Предназначен для ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии твердых тел с использованием газоразрядных линий HeI и HeII, а также других благородных газов и водорода. Источник HIS 14 HD представляет собой улучшенный вариант хорошо зарекомендовавшего себя FOCUS HIS 13. Малое пятно облучения 300 мкм делает источник HIS 14 HD идеальным выбором для фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) или фотоэлектронной микроскопии (PEEM), где в небольшой области образца требуется создать высокую плотность потока излучения.

Ключевые особенности

Прочная конструкция с водяным охлаждением и соединением прямой видимости между газоразрядной областью и мишенью для легкого выравнивания.

Порт с визором облегчает позиционирование светового пятна на образце в диапазоне +/- 3°. Для специализированных ARPES экспериментов есть дополнительная третья ступень дифференциальной откачки для работы в диапазоне 10^-10 мбар. Фокусировка светового пятна вплоть до 300 мкм осуществляется с использованием современной оптической технологии, применяемой на синхротроне. Фототок в световом пятне 300 мкм составляет более 30 нА (алюминиевая фольга с приложенным напряжением смещения).

Источник HIS 14 HD имеет установочный фланец CF 63 ID (опционально — фланец CF 100 ID) и поставляется вместе с фланцем-переходником, позволяющим установку источника в вакуумную камеру заказчика (чертеж камеры предоставляется заказчиком).

Малошумящий цифровой источник питания обеспечивает газоразрядный ток вплоть до 300 мА для работы HeI и HeII линий. Минимальная ширина HeI линии возбуждения фотонов составляет менее 2 мэВ. Блок питания поддерживает автоматический розжиг плазмы и комплектуется датчиком давления Пирани.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Источник ультрафиолетового излучения UV-X

Специализированный источник для лабораторных фотоэлектронных спектрометров. Обеспечивает стабильное УФ-излучение в широком спектральном диапазоне.

Источник электронов SL 1000

Компактный источник с креплением на фланец NW35 CF. Оптимизирован для формирования параллельного электронного пучка при низких кинетических энергиях.

Источник электронов высокого разрешения SEM 20

Высокоточный источник для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии. Обеспечивает размер пятна менее 20 нм при 25 кВ и токе пучка 0.5 нА.

Электронная пушка SEM 250 / SEM 500

Источники для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии. Размер пятна менее 250 нм при 12 кВ и 1 нА тока пучка.

Источник электронов с малым пятном EKF 1000

Компактный источник с малым пятном облучения. Экономичное решение для прецизионных задач в электронной микроскопии.

Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S

Кластерная пушка для глубинного профилирования и анализа состава материалов. Совместима с системами РФЭС и другими методами анализа поверхности.

Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10

Источник для нейтрализации заряда при анализе изоляционных материалов в методах РФЭС, УФЭС и других спектроскопических исследованиях.

Универсальная электронная пушка EKF 300

Универсальный источник электронов с диапазоном энергий 0.1–5 кэВ. Комплектуется источником питания NGE 52.

Ионная пушка ISE 5

Компактный универсальный источник ионного распыления с токами мишени свыше 80 мкА и диапазоном энергий от 300 эВ до 5 кэВ.

Ионная пушка FDG 150

Пушка с цифровым управлением и точной фокусировкой, обеспечивающая регулируемый размер и высокую плотность ионного пучка. Поддерживает растровый режим травления.

Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200

Монохроматические системы нового поколения. Обеспечивают оптимальный поток фотонов, высокое энергетическое разрешение и чистый спектр излучения.

Источники рентгена DAR 400 и DAR 450

Источники сочетают высокую интенсивность и стабильность для задач фотоэлектронной спектроскопии. Оснащены двойным анодом.

УФ источник HIS 13

Высоковакуумный источник ультрафиолетового диапазона с интегрированным высоковольтным анодом и самоцентрирующимся газоразрядным капилляром для получения интенсивного потока фотонов.

Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES

Узкополосный источник высокой интенсивности крайнего УФ диапазона. Предназначен для эффективных измерений методом ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии.