Главная Каталог Наука и нанотехнологии Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron Источники рентгена DAR 400 и DAR 450

Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

Источники рентгена DAR 400 и DAR 450

Scienta Omicron

Источники сочетают высокую интенсивность и стабильность для задач фотоэлектронной спектроскопии. Модели DAR 400 и DAR 450 оснащены двойным анодом, что обеспечивает мощный рентгеновский поток и минимизирует перекрестные помехи между анодами.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Особенности:

Рентгеновский источник с двойным анодом
Высокий поток рентгеновского излучения для быстрого анализа образцов
Линейный привод перемещения для выбора оптимального рабочего расстояния (опция)
Полностью автоматизирован — управление от ПК
Материал анода на заказ (запрос)
Цифровой источник питания

DAR 400 — высокоинтенсивный рентгеновский источник с двойным анодом. Уникальная конструкция источника позволяет минимизировать перекрёстные помехи между двумя анодами, а цифровой источник питания обеспечивает высокостабильное рентгеновское излучение мощностью до 400 Вт. Источник питания полностью автоматизирован и управляется от ПК; автоматизированные процедуры плавного пуска и дегазации источника позволяют легко управлять им. В стандартной конфигурации DAR 400 комплектуется магниевым и алюминиевым анодами. Возможно изготовление источника с другими материалами анода на заказ.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Источник ультрафиолетового излучения UV-X

Специализированный источник для лабораторных фотоэлектронных спектрометров. Обеспечивает стабильное УФ-излучение в широком спектральном диапазоне.

Источник электронов SL 1000

Компактный источник с креплением на фланец NW35 CF. Оптимизирован для формирования параллельного электронного пучка при низких кинетических энергиях.

Источник электронов высокого разрешения SEM 20

Высокоточный источник для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии. Обеспечивает размер пятна менее 20 нм при 25 кВ и токе пучка 0.5 нА.

Электронная пушка SEM 250 / SEM 500

Источники для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии. Размер пятна менее 250 нм при 12 кВ и 1 нА тока пучка.

Источник электронов с малым пятном EKF 1000

Компактный источник с малым пятном облучения. Экономичное решение для прецизионных задач в электронной микроскопии.

Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S

Кластерная пушка для глубинного профилирования и анализа состава материалов. Совместима с системами РФЭС и другими методами анализа поверхности.

Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10

Источник для нейтрализации заряда при анализе изоляционных материалов в методах РФЭС, УФЭС и других спектроскопических исследованиях.

Универсальная электронная пушка EKF 300

Универсальный источник электронов с диапазоном энергий 0.1–5 кэВ. Комплектуется источником питания NGE 52.

Ионная пушка ISE 5

Компактный универсальный источник ионного распыления с токами мишени свыше 80 мкА и диапазоном энергий от 300 эВ до 5 кэВ.

Ионная пушка FDG 150

Пушка с цифровым управлением и точной фокусировкой, обеспечивающая регулируемый размер и высокую плотность ионного пучка. Поддерживает растровый режим травления.

Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200

Монохроматические системы нового поколения. Обеспечивают оптимальный поток фотонов, высокое энергетическое разрешение и чистый спектр излучения.

УФ источник HIS 13

Высоковакуумный источник ультрафиолетового диапазона с интегрированным высоковольтным анодом и самоцентрирующимся газоразрядным капилляром для получения интенсивного потока фотонов.

УФ источник HIS 14 HD

Источник для фотоэлектронной спектроскопии твердых тел, использующий газоразрядные линии He I и He II. Отличается стабильностью и высокой яркостью излучения.

Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES

Узкополосный источник высокой интенсивности крайнего УФ диапазона. Предназначен для эффективных измерений методом ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии.