Главная Каталог Наука и нанотехнологии Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron Ионная пушка FDG 150

Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

Ионная пушка FDG 150

Scienta Omicron

Пушка с цифровым управлением и точной фокусировкой, обеспечивающая регулируемый размер и высокую плотность ионного пучка. Поддерживает растровый режим травления.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Данная ионная пушка от компании Scienta Omicron имеет точную фокусировку и четкое цифровое управление, что с легкостью обеспечивает регулируемый размер пучка с высочайшей плотностью тока, а также растровый режим для однородного травления образца.

Особенности:

Диапазон рабочих энергий от 10 эВ до 5 кэВ
Встроенный механический визир
Отличные характеристики тока мишени
Высокая плотность тока > 2 мА/см² при 5 кэВ

FDG 150 — ионная пушка с плавающей колонной и дифференциальной откачкой, предназначенная для высокопроизводительного определения профиля распределения веществ по глубине, а также для электрической нейтрализации исследуемых образцов.

Цифровой блок питания полностью автоматизирован и может работать автономно. Он включает в себя процессор цифрового сканирования и отклонения с возможностью пользовательской регулировки алгоритма коррекции трапецеидальных искажений.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

Источник ультрафиолетового излучения UV-X

Специализированный источник для лабораторных фотоэлектронных спектрометров. Обеспечивает стабильное УФ-излучение в широком спектральном диапазоне.

Источник электронов SL 1000

Компактный источник с креплением на фланец NW35 CF. Оптимизирован для формирования параллельного электронного пучка при низких кинетических энергиях.

Источник электронов высокого разрешения SEM 20

Высокоточный источник для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии. Обеспечивает размер пятна менее 20 нм при 25 кВ и токе пучка 0.5 нА.

Электронная пушка SEM 250 / SEM 500

Источники для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии. Размер пятна менее 250 нм при 12 кВ и 1 нА тока пучка.

Источник электронов с малым пятном EKF 1000

Компактный источник с малым пятном облучения. Экономичное решение для прецизионных задач в электронной микроскопии.

Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S

Кластерная пушка для глубинного профилирования и анализа состава материалов. Совместима с системами РФЭС и другими методами анализа поверхности.

Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10

Источник для нейтрализации заряда при анализе изоляционных материалов в методах РФЭС, УФЭС и других спектроскопических исследованиях.

Универсальная электронная пушка EKF 300

Универсальный источник электронов с диапазоном энергий 0.1–5 кэВ. Комплектуется источником питания NGE 52.

Ионная пушка ISE 5

Компактный универсальный источник ионного распыления с токами мишени свыше 80 мкА и диапазоном энергий от 300 эВ до 5 кэВ.

Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200

Монохроматические системы нового поколения. Обеспечивают оптимальный поток фотонов, высокое энергетическое разрешение и чистый спектр излучения.

Источники рентгена DAR 400 и DAR 450

Источники сочетают высокую интенсивность и стабильность для задач фотоэлектронной спектроскопии. Оснащены двойным анодом.

УФ источник HIS 13

Высоковакуумный источник ультрафиолетового диапазона с интегрированным высоковольтным анодом и самоцентрирующимся газоразрядным капилляром для получения интенсивного потока фотонов.

УФ источник HIS 14 HD

Источник для фотоэлектронной спектроскопии твердых тел, использующий газоразрядные линии He I и He II. Отличается стабильностью и высокой яркостью излучения.

Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES

Узкополосный источник высокой интенсивности крайнего УФ диапазона. Предназначен для эффективных измерений методом ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии.