Наука и нанотехнологии
Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron
Оборудование включает ионные, электронные и фотонные источники для вакуумных установок. Предназначено для фотоэлектронной спектроскопии (XPS, UPS, ARPES), анализа поверхностей, глубинного профилирования и очистки образцов.
Товары раздела
Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES
Узкополосный источник высокой интенсивности крайнего УФ диапазона. Предназначен для эффективных измерений методом ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии.
УФ источник HIS 14 HD
Источник для фотоэлектронной спектроскопии твердых тел, использующий газоразрядные линии He I и He II. Отличается стабильностью и высокой яркостью излучения.
УФ источник HIS 13
Высоковакуумный источник ультрафиолетового диапазона с интегрированным высоковольтным анодом и самоцентрирующимся газоразрядным капилляром для получения интенсивного потока фотонов.
Источники рентгена DAR 400 и DAR 450
Источники сочетают высокую интенсивность и стабильность для задач фотоэлектронной спектроскопии. Оснащены двойным анодом.
Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200
Монохроматические системы нового поколения. Обеспечивают оптимальный поток фотонов, высокое энергетическое разрешение и чистый спектр излучения.
Ионная пушка FDG 150
Пушка с цифровым управлением и точной фокусировкой, обеспечивающая регулируемый размер и высокую плотность ионного пучка. Поддерживает растровый режим травления.
Ионная пушка ISE 5
Компактный универсальный источник ионного распыления с токами мишени свыше 80 мкА и диапазоном энергий от 300 эВ до 5 кэВ.
Универсальная электронная пушка EKF 300
Универсальный источник электронов с диапазоном энергий 0.1–5 кэВ. Комплектуется источником питания NGE 52.
Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10
Источник для нейтрализации заряда при анализе изоляционных материалов в методах РФЭС, УФЭС и других спектроскопических исследованиях.
Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S
Кластерная пушка для глубинного профилирования и анализа состава материалов. Совместима с системами РФЭС и другими методами анализа поверхности.
Источник электронов с малым пятном EKF 1000
Компактный источник с малым пятном облучения. Экономичное решение для прецизионных задач в электронной микроскопии.
Электронная пушка SEM 250 / SEM 500
Источники для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии. Размер пятна менее 250 нм при 12 кВ и 1 нА тока пучка.
Источник электронов высокого разрешения SEM 20
Высокоточный источник для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии. Обеспечивает размер пятна менее 20 нм при 25 кВ и токе пучка 0.5 нА.
Источник электронов SL 1000
Компактный источник с креплением на фланец NW35 CF. Оптимизирован для формирования параллельного электронного пучка при низких кинетических энергиях.
Источник ультрафиолетового излучения UV-X
Специализированный источник для лабораторных фотоэлектронных спектрометров. Обеспечивает стабильное УФ-излучение в широком спектральном диапазоне.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
