Главная Каталог Наука и нанотехнологии Электронная спектроскопия поверхности SCIENTA R8000. Полусферический анализатор

Электронная спектроскопия поверхности

SCIENTA R8000. Полусферический анализатор

Полусферический анализатор с разрешающей способностью по энергии лучше 1 мэВ и угловым разрешением 0.05°.

Описание оборудования

С появлением на рынке модели VG Scienta R8000 было переосмыслено современное положение дел в области электронной спектроскопии. VG Scienta с гордостью представляет полусферический анализатор с проверенной потребителями производительностью, с разрешающей способностью по энергии лучше 1 мэВ и угловым разрешением 0.05°. Таким образом, VG Scienta R8000 — это следующий шаг в эволюции нашумевшей серии спектрометров Scienta 200 мм.

Ключевые особенности спектрометра VG Scienta R8000:

Новый дизайн стойки источника высокого напряжения
Ручная перепроверка критических параметров
Особое внимание уделено заземлению прибора
Конфигурация Scienta R8000 со сверхстабильным источником напряжения
Индивидуальная проверка всех поставляемых источников питания на низкий уровень шума и долговременную стабильность
Комплект индивидуальной настройки щели спектрометра
Индивидуальный уровень пропускной энергии в стандартной комплектации
Пропускная энергия в 0.5 эВ в стандартной комплектации
Щель спектрометра в 0.05 мм в стандартной комплектации
Размагничивание анализатора прямо на месте у заказчика

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением

Компактный полусферический анализатор с гибким функционалом, оптимизированный для РФЭ (XPS), УФЭ (UPS) и фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) с высоким разрешением.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab

Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме.

Электронный ARPES анализатор DFS30

Анализатор оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса. Способен детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов.

HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном

Уникальный лабораторный HAXPES спектрометр с источником жесткого монохроматизированного излучения.

DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением

Система фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (установка для ARPES).

Полусферический анализатор Argus

Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА.

Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту

Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов.

LEED & RHEED

Линейка приборов, включающая LEED оптику и RHEED систему (дифракция быстрых электронов или ДБЭ).

NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд

Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением.

SCIENTA DA30. Полусферический анализатор

Революционная разработка для фотоэлектронной спектроскопии с разрешением по углу и спину электронов. Имеет новейшую конструкцию дефлектора.

SCIENTA R3000. Полусферический анализатор

Компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла.

SCIENTA R4000. Полусферический анализатор

Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм.

FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп

Микроскоп используется для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении. Отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования.

NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп

РФЭ спектрометр и микроскоп предназначен для отображения химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением. Анализирует мельчайшие образцы, предоставляя информацию о химическом состоянии за пределами применимости других методов с высоким латеральным разрешением.