Главная Каталог Наука и нанотехнологии Электронная спектроскопия поверхности SCIENTA DA30. Полусферический анализатор

Электронная спектроскопия поверхности

SCIENTA DA30. Полусферический анализатор

Революционная разработка для фотоэлектронной спектроскопии с разрешением по углу и спину электронов. Новейшая конструкция дефлектора этого анализатора позволяет прибору детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Система VG Scienta DA30 является разработкой последнего поколения. Новейшая конструкция дефлектора этого анализатора позволяет прибору детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов. Эта система запатентована и позволяет проводить картирование полной поверхности зоны Бриллюэна без необходимости вращения образца.

Благодаря возможностям дефлектора, анализатор Scienta DA30 идеально сочетается с системой Scienta определения спина электронов.

Ключевые особенности анализатора:

30° полный конус детектирования без вращения образца
Детектирование спина электронов без вращения образца
Запатентованная конструкция

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением

Компактный полусферический анализатор с гибким функционалом, оптимизированный для РФЭ (XPS), УФЭ (UPS) и фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) с высоким разрешением.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab

Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме.

Электронный ARPES анализатор DFS30

Анализатор оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса. Способен детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов.

HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном

Уникальный лабораторный HAXPES спектрометр с источником жесткого монохроматизированного излучения.

DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением

Система фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (установка для ARPES).

Полусферический анализатор Argus

Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА.

Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту

Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов.

LEED & RHEED

Линейка приборов, включающая LEED оптику и RHEED систему (дифракция быстрых электронов или ДБЭ).

NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд

Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением.

SCIENTA R3000. Полусферический анализатор

Компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла.

SCIENTA R4000. Полусферический анализатор

Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм.

SCIENTA R8000. Полусферический анализатор

Полусферический анализатор с разрешающей способностью по энергии лучше 1 мэВ и угловым разрешением 0.05°.

FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп

Микроскоп используется для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении. Отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования.

NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп

РФЭ спектрометр и микроскоп предназначен для отображения химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением. Анализирует мельчайшие образцы, предоставляя информацию о химическом состоянии за пределами применимости других методов с высоким латеральным разрешением.