Электронная спектроскопия поверхности

NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд

NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением.

Описание оборудования

   Электронная колонна Gemini сверхвысокого вакуума:

  • высочайшее пространственное разрешение
  • наименьший размер пятна электронного пучка
  • уникальная производительность в режиме низких энергий
  • эффективная микроскопия вторичных электронов

   Электронный анализатор Оже-спектрометра NanoSAM: 

  • переменное разрешение по энергии
  • превосходная чувствительность, многоканальное детектирование

   Пробоподготовка для Оже спектроскопии:

  • варьирование размера образца
  • изменение температуры образца в диапазоне (50-500) K
  • наклон плоскости образца ±60°

   Предельное разрешение для Оже-спектрометра

   Комплекс NanoSAM (также называемый Оже-микрозонд) является основным инструментом для Оже-спектроскопии (анализа малых структур). Благодаря уникальной производительности электронной колонны Gemini сверхвысокого вакуума, NanoSAM гарантирует непревзойденное разрешение лучше 5 нм в сканирующей Оже микроскопии и лучше 3 нм в микроскопии вторичных электронов.

   В отличие от других систем, Оже-спектрометр NanoSAM обладает очень хорошим разрешением не только на стандартной энергии пучка в 20 кэВ, но и при энергии в 5 кэВ — разрешение в сканирующей Оже микроскопии при этой энергии остается лучше 10 нм. Режим низких энергий позволяет работать в диапазоне параметров, где сечения Оже высоки и хорошо документированы для количественного анализа.

   Дополнительный анализ

   Оже-спектрометр NanoSAM предназначен как для быстрого и эффективного сбора данных с рутинных образцов, так и для гибкой работы в нетипичных диапазонах параметров на сложных материалах. Кроме того, функциональность NanoSAM может быть расширена с помощью методик дополнительного анализа ключевых характеристик образцов: кристаллической структуры (дифракция отраженных электронов) или структуры магнитных доменов (сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом). Другими особенностями NanoSAM являются: определение профиля распределения веществ по глубине, зарядовая нейтрализация, фокусируемый ионный пучок и электронно-лучевая литография.

Описание NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Похожее оборудование
DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением
Компактный полусферический анализатор с гибким функционалом, оптимизированный для РФЭ (XPS),  УФЭ (UPS) и фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) с высоким разрешением.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме.
Электронный ARPES анализатор DFS30 Электронный ARPES анализатор DFS30
Анализатор оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса. Способен детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов.
HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном
Уникальный лабораторный HAXPES спектрометр с источником жесткого монохроматизированного излучения.
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
Система фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (установка для ARPES).
Полусферический анализатор Argus Полусферический анализатор Argus
Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА.
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту
Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов.
LEED & RHEED LEED & RHEED
Линейка приборов, включающая LEED оптику и RHEED систему (дифракция быстрых электронов или ДБЭ).
SCIENTA DA30. Полусферический анализатор SCIENTA DA30. Полусферический анализатор
Революционная разработка для фотоэлектронной спектроскопии с разрешением по углу и спину электронов. Имеет новейшую конструкцию дефлектора.
SCIENTA R3000. Полусферический анализатор SCIENTA R3000. Полусферический анализатор
Компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла.
SCIENTA R4000. Полусферический анализатор SCIENTA R4000. Полусферический анализатор
Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм.
SCIENTA R8000. Полусферический анализатор SCIENTA R8000. Полусферический анализатор
Полусферический анализатор с разрешающей способностью по энергии лучше 1 мэВ и угловым разрешением 0.05°.
FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Микроскоп используется для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении. Отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования.
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
РФЭ спектрометр и микроскоп предназначен для отображения химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением. Анализирует мельчайшие образцы, предоставляя информацию о химическом состоянии за пределами применимости других методов с высоким латеральным разрешением.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54