Электронная спектроскопия поверхности

NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп

NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
Scienta Omicron
РФЭ спектрометр и микроскоп предназначен для отображения химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением. Прибор позволяет анализировать мельчайшие образцы, предоставляя информацию о химическом состоянии за пределами применимости других методов с высоким латеральным разрешением.

Описание оборудования

NanoESCA предлагает отображение химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением (< 500 нм в лабораторных условиях). Прибор позволяет анализировать мельчайшие образцы, давая информацию о химическом состоянии за пределами применимости других методов с высоким латеральным разрешением, например, Оже-сканирования и времяпролетной МСВИ.

Навигация образца в режиме реального времени обеспечивается посредством фотоэлектронной микроскопии, которая работает в режиме вторичных электронов. Режим фотоэлектронной микроскопии позволяет легко обнаружить мельчайшие особенности образца и обеспечивает высокое разрешение (< 50 нм). Кроме того режим фотоэлектронной микроскопии обеспечивает количественную информацию о локальной работе выхода и локальном заряде образца.

Система NanoESCA может комплектоваться опцией μARUPS, которая позволяет анализировать k-пространство с предельным углом охвата в микронных областях, например, в небольших зернах в поликристаллической поверхности образца.

За ее революционный дизайн система NanoESCA получила награду R&D 100 в 2007 году.

  • Предельное разрешение РФЭС визуализации: 500 нм / 100 нм (Лаборатория/Синхротрон)
  • Удобная навигация образца при помощи фотоэлектронной микроскопии
  • Спектроскопия с малым пятном облучения
  • Энергетический фильтр с поправкой на аберрацию
  • Монохромный рентгеновский источник высокой мощности
  • µARUPS с предельным углом охвата
  • Создан в сотрудничестве с FOCUS GmbH

NanoESCA создана для визуализации

В последние десятилетия стандартные РФЭС инструменты стали средствами рутинного анализа образцов, и развитие инструментов происходит в основном благодаря интеграции программного обеспечения и легкости в использовании. Подходы к созданию новой аппаратуры вне пределов рутинного РФЭС анализа были редки, и РФЭС визуализация с пространственным разрешением меньше 1 мкм оставалась вне досягаемости.

Уникальный дизайн входной линзы с высоким разрешением и революционный анализатор электронов (двойной полусферический анализатор электронов) позволили NanoESCA преодолеть этот барьер. В отличие от стандартной микроскопии вторичных электронов или вторичного рентгеновского изображения, фотоэлектронная микроскопия с высоким пространственным разрешением и прекрасным разрешением по энергии позволяет проводить детальный предварительный анализ образца, намного превосходящий его простую навигацию.

В результате, NanoESCA позволяет достичь более глубокого понимания локальной структуры образца, его химической и электронной структуры, что делает NanoESCA инструментом, действительно предназначенным для предельной ESCA визуализации.

Похожее оборудование
DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением
Компактный полусферический анализатор с гибким функционалом, оптимизированный для РФЭ (XPS),  УФЭ (UPS) и фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) с высоким разрешением.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме.
Электронный ARPES анализатор DFS30 Электронный ARPES анализатор DFS30
Анализатор оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса. Способен детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов.
HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном
Уникальный лабораторный HAXPES спектрометр с источником жесткого монохроматизированного излучения.
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
Система фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (установка для ARPES).
Полусферический анализатор Argus Полусферический анализатор Argus
Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА.
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту
Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов.
LEED & RHEED LEED & RHEED
Линейка приборов, включающая LEED оптику и RHEED систему (дифракция быстрых электронов или ДБЭ).
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением.
SCIENTA DA30. Полусферический анализатор SCIENTA DA30. Полусферический анализатор
Революционная разработка для фотоэлектронной спектроскопии с разрешением по углу и спину электронов. Имеет новейшую конструкцию дефлектора.
SCIENTA R3000. Полусферический анализатор SCIENTA R3000. Полусферический анализатор
Компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла.
SCIENTA R4000. Полусферический анализатор SCIENTA R4000. Полусферический анализатор
Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм.
SCIENTA R8000. Полусферический анализатор SCIENTA R8000. Полусферический анализатор
Полусферический анализатор с разрешающей способностью по энергии лучше 1 мэВ и угловым разрешением 0.05°.
FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Микроскоп используется для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении. Отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54