Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Hydra Bio Plasma-FIB
Thermo Fisher Scientific Inc.
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния с помощью объемной электронной микроскопии (при криогенных и комнатных температурах) и прецизионной подготовки срезов для крио-томографии.
Описание оборудования
Ключевые особенности системы
- Мульти-ионная технология с 4 видами ионов (аргон, азот, кислород, ксенон)
- Совместимость со всеми распространенными методами подготовки образцов: заморозка при высоком давлении, высушивание образцов в критической точке, различные среды заливки.
Функциональные возможности
- Cерийная PFIB-визуализация в высоком разрешении
- Серийная PFIB-визуализация больших площадей
- Томография
- Корреляционная световая и электронная микроскопия (CLEM)
- Высокопроизводительная подготовка срезов для крио-томографии
Технические особенности
- Интуитивное программное обеспечение с автоматизированными протоколами
- Высокая воспроизводимость результатов
- Сохранение нативной структуры образцов
Примеры применения
- Визуализация Chlamydomonas reinhardtii в крио-режиме
- 3D-реконструкция нейронов мыши
- Анализ гиппокампа с использованием метода Spin Mill Bio
Преимущества
- Объемная ЭМ-визуализация крио- и эпоксидных образцов: поддержка 4 переключаемых видов ионных пучков
- Оптимизированные протоколы подготовки для различных типов фиксации
- Коррелятивная микроскопия: встроенный световой микроскоп высокого разрешения и автоматизированная система сопоставления координат между световой и электронной микроскопией
Особенности
- Доступ к библиотеке научных публикаций и методических рекомендаций
- Консультации по подбору конфигурации для крио-FIB микроскопии
- Полный спектр решений для объемной электронной микроскопии
Микроскоп Aquilos 2 Cryo-FIB
Специализированная система для приготовления ультратонких, электронно-прозрачных срезов.
Микроскоп Arctis Cryo-Plasma-FIB
Специализированная система для автоматизированного высокопроизводительного получения крио-срезов из витрифицированных клеток.
Микроскоп ExSolve WTP DualBeam
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Helios 5 DualBeam
Микроскоп сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 EXL DualBeam
Сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 PFIB DualBeam
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (Plasma FIB-SEM) для подготовки TEM-образцов, включая 3D-характеризацию, анализ поперечных сечений, микрообработку.
Микроскоп Helios 5 PFIB Laser
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающий работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios 6 HD FIB-SEM
Микроскоп устанавливает новые стандарты в области подготовки образцов, обеспечивая исследователей и промышленность надежными инструментами для решения самых сложных аналитических задач.
Микроскоп Helios 6 HX FIB-SEM
Передовое решение для автоматизированной подготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии, сочетающее высочайшую точность с лучшей производительностью.
Микроскоп Helios 6 HXS FIB-SEM
Высокотехнологичное решение для серийной подготовки образцов в полупроводниковой промышленности, обеспечивающее беспрецедентный уровень автоматизации и точности.
Микроскоп Helios Hydra 5 PFIB-SEM
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающие работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios Hydra 5+ PFIB-SEM
Усовершенствованная система плазменной ионной микроскопии с повышенной на 50% мощностью ионного пучка (до 3.75 мкА для Xe) и ультранизким 100 эВ электронным пучком.
Микроскоп Scios 3 FIB-SEM
Современный аналитический сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) сверхвысокого разрешения.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
